詢價(jià)
- 適用尺寸：3.2mmx2.5mm~1.6mmx0.8mm
- 測(cè)試包裝速度：600ppm~1500ppm
- WxD(mm)：3.2x2.5
- 單面電極：600
- 五面電極：900
- 電源需求：單相220V，頻率60Hz/2.0kW
- 重量：約500kg
- 尺寸：W1280xH1495xD900mm
電感層間短路自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
INDUCTOR LAYER SHORT ATS
MODEL CHROMA 1871
為因應(yīng)現(xiàn)今電子產(chǎn)品，薄型化的電感器被大量使用，相對(duì)的也需大量生產(chǎn)，Chroma/致茂1871生產(chǎn)效率為每分鐘1,500個(gè)，可滿足龐大產(chǎn)能需求。利用一次5組層間短路測(cè)試站同時(shí)測(cè)試來達(dá)到快速量產(chǎn)。亦可選擇僅搭配2組層間短路測(cè)試站給予不需量產(chǎn)的研發(fā)或品保等單位使用，以符合成本效益。Chroma/致茂1871的測(cè)試功能為層間短路測(cè)試(IWT)，是把關(guān)芯片電感質(zhì)量的測(cè)試系統(tǒng)。此系統(tǒng)也承襲Chroma19301A繞線組件脈沖測(cè)試器所有的判斷功能，包含波形面積比(Area)、放電二次微分偵測(cè)(Laplacian)及新的測(cè)試判斷功能波峰降比(ΔPeakRatio)、共振波面積比(ΔResonantArea)。致茂電子專注于精密電子量測(cè)技術(shù)，自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的治具亦可量身訂做。1871使用的測(cè)試座為類四線式量測(cè)設(shè)計(jì)，測(cè)試座與產(chǎn)品的連接端采片式設(shè)計(jì)，比一般測(cè)試設(shè)備使用的探針更容易接觸且壽命長(zhǎng)；量測(cè)時(shí)，片式設(shè)計(jì)也比探針穩(wěn)定、容易維護(hù)。
基本特點(diǎn)
■適用尺寸3.2mmx2.5mm~1.6mmx0.8mm
■測(cè)試包裝速度600ppm~1500ppm
■層間短路判斷功能：
-面積比(Area)
-放電二次微分偵測(cè)(Laplacian)
-波峰降比(ΔPeakRatio)
-共振波面積比(ΔResonantArea)
■具接觸檢查功能以延長(zhǎng)治具使用期限
■可選擇搭配5組或2組測(cè)試站
■導(dǎo)引盤設(shè)計(jì)，無掉料疑慮
■類四線式量測(cè)設(shè)計(jì)的測(cè)試座
■具有各種不良品獨(dú)立收集盒
■專用數(shù)據(jù)收集軟件，可實(shí)時(shí)監(jiān)控生產(chǎn)質(zhì)量
■切換式中/英/日文操作接口
■設(shè)備快速、穩(wěn)定、安全
致茂1871產(chǎn)品應(yīng)用
圓振盤入
料供料組是決定生產(chǎn)效能的關(guān)卡，圓振盤供料快速且穩(wěn)定，以往待測(cè)物方向不易定位，大多以直線式供料設(shè)計(jì)，并在供料的直線路徑中加入偵測(cè)及翻轉(zhuǎn)的相關(guān)機(jī)構(gòu)，增加占用空間且供料速度受限；圓振盤的優(yōu)點(diǎn)為螺旋式路徑，配合光纖偵測(cè)及吹氣機(jī)構(gòu)即可完成待測(cè)物正確翻轉(zhuǎn)、固定方向供料，毋需復(fù)雜的翻轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)，使用空間小，達(dá)到快速、穩(wěn)定及方向一致的供料。
類四線式量測(cè)專用測(cè)試座
芯片型電感的規(guī)格非常小，在進(jìn)行層間短路測(cè)試時(shí)容易受到配線及治具的影響。一般測(cè)試座為二線式設(shè)計(jì)，進(jìn)行電感值較小的層間短路測(cè)試時(shí)，配線的影響更為顯著，容易發(fā)生實(shí)際施加于芯片型電感上的電壓低于設(shè)定電壓。類四線式的特殊設(shè)計(jì)使輸出訊號(hào)傳送及測(cè)量訊號(hào)擷取的影響降到教低，所以不易受配線影響，搭配Chroma19301A的電壓輸出補(bǔ)償功能后，可確保設(shè)定電壓與實(shí)際施加電壓一致。
低電感繞線組件脈沖測(cè)試器
致茂1871電感層間短路自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)搭配Chroma19301A針對(duì)低感量的功率電感所設(shè)計(jì)的層間耐壓測(cè)試器，針對(duì)其測(cè)試特性提供四線式測(cè)量，具接觸檢查功能(專利)，可避免接觸不良或開路時(shí)造成治具因高壓而跳火使壽命減短；另具備電感差異電壓補(bǔ)償功能(專利)，減少因電感本身感量的差異造成測(cè)試電壓之誤差，其高速量測(cè)亦可搭配自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)使用于生產(chǎn)線。判定功能為Chroma特有的測(cè)試技術(shù)，可檢出Rp異?；蛄踊?，提升產(chǎn)品質(zhì)量。特點(diǎn)如下：
?測(cè)試應(yīng)用0.1μH~100μH
?脈沖電壓10V~1000V
?高速測(cè)試<18mshighspeedtest
?脈沖測(cè)試取樣率(200MHz)10bits
?電感測(cè)試接觸檢查功能
?電感差異電壓補(bǔ)償功能
?崩潰電壓分析功能
?USB波形儲(chǔ)存&畫面擷取功能
