ST-Thermal_X 功率器件熱特性測(cè)試
可測(cè)試 Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / DIODEs / MOSFETs / BJTs / SCRs 等器件的熱特性
試驗(yàn)?zāi)芰?/p>
? 功率循環(huán) · 秒級(jí) / Pcsec
? 功率循環(huán) · 分鐘級(jí) / PCmin
? 被動(dòng)循環(huán) / TC
? 熱阻()/ Rth/Zth
? K曲線 / Kcurve






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李先生先生(聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)說明是在維庫(kù)儀器儀表網(wǎng)看到的,謝謝)
西安天光測(cè)控技術(shù)有限公司
免企業(yè)未認(rèn)證證營(yíng)業(yè)執(zhí)照已上傳
經(jīng)營(yíng)模式:工廠
所在地:陜西省 咸陽(yáng)市
主營(yíng)產(chǎn)品:參數(shù)測(cè)試儀,半導(dǎo)體器件測(cè)試儀,功率器件測(cè)試儀,SiC 碳化硅器件測(cè)試儀, GaN 氮化鎵器件測(cè)試儀,晶閘管參數(shù)測(cè)試儀,美國(guó)ITC57300功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)替代產(chǎn)品,瑞士LEMSYS IGBT
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