詢價(jià)
- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：瑞士
- 耦合：ANSI / IEC / 外部
- 浪涌電壓：± 200 V – 66 kV
- 脈沖重復(fù)：5* – 20 s，長達(dá)600 s
- 測試持續(xù)時(shí)間：1 – 9999個(gè)脈沖
- 阻抗：2 Ω / 12 Ω
特測NSG 3060雷擊浪涌發(fā)生器特征：
1、模塊化，可擴(kuò)展系統(tǒng)
2、浪涌電壓高達(dá)6.6 kV
3、7”彩色觸摸屏，便于操作
4、IEC和ANSI兩種耦合方式
5、DTA(直接測試程序調(diào)用)可快速提供標(biāo)準(zhǔn)化測試設(shè)置
6、測試過程中可以更改測試參數(shù)
7、大量可選測試附件
8、高開關(guān)切換技術(shù)，滿足ANSI耦合要求
NSG 3060雷擊浪涌發(fā)生器作為新一代的傳導(dǎo)抗擾度綜合測試儀更將特測公司的產(chǎn)品推向了一個(gè)新的高度。這種采用模塊化結(jié)構(gòu)的創(chuàng)新設(shè)計(jì)既可以滿足基本測試的需求，也能通過擴(kuò)展功能來滿足要求更的檢測實(shí)驗(yàn)室的測試需要，完全滿足CE 標(biāo)識和ANSI C62.41標(biāo)準(zhǔn)測試要求而設(shè)計(jì)，一臺標(biāo)準(zhǔn)的NSG 3060包括對綜合波、振鈴波和EFT電快速瞬變脈沖群以及PQT電壓跌落的測試，其多樣性的擴(kuò)展能力使得它能夠靈活配置來適應(yīng)更廣闊的應(yīng)用場合。利用NSG 3060雷擊浪涌發(fā)生獨(dú)有的“主－從”結(jié)構(gòu)概念，新的脈沖發(fā)生器模塊可簡便快速地增加到原來的系統(tǒng)中，這種技術(shù)允許利用存儲在從控制器上的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)和校正因子對單個(gè)脈沖模塊分別進(jìn)行校準(zhǔn)。新模塊的安裝非常簡便，無需返回整個(gè)系統(tǒng)對其進(jìn)行校準(zhǔn)，采用先進(jìn)技術(shù)的組件，NSG 3060在開關(guān)切換技術(shù)和相位方面建立了新的標(biāo)準(zhǔn)，并且超越了現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)的要求，采用功能強(qiáng)大的處理器使得NSG 3060系統(tǒng)能夠完全滿足ANSI C62.41標(biāo)準(zhǔn)中所規(guī)定的獨(dú)特的耦合要求，ANSI C62.41標(biāo)準(zhǔn)要求脈沖幅值要隨著交流電源脈沖相位、電壓的幅值的變化而變化。超高對比度的7”彩色觸摸屏是NSG 3060雷擊浪涌發(fā)生器里邊引人注目的特點(diǎn)。依據(jù)要求，可利用集成在NSG 3060上的鍵盤或帶有按鍵的滾輪進(jìn)行靈敏度調(diào)節(jié)，友好的圖形顯示界面使得測試速度加快。每個(gè)參數(shù)值清晰可見，所有的設(shè)置可以通過大尺寸的觸摸式輸入按鈕進(jìn)行快速選擇和修改。不需要用筆，就可以快速簡單的編寫程序?？奢p易創(chuàng)建一個(gè)多步測試程序并且可方便地更改該多步測試程序的測試步驟或參數(shù)。擇“模式”允許用戶在測試過程中，利用滾輪手動(dòng)地更改參數(shù)，這是一種激活關(guān)鍵閾值的快速有效的方法。利用集成在NSG 3060雷擊浪涌發(fā)生器的TA(測試程序)功能，只要少數(shù)幾個(gè)“點(diǎn)擊”便可觸發(fā)標(biāo)準(zhǔn)化測試，從而可快速可靠地獲得測試結(jié)果。利用簡單易用的SD記憶卡讀卡器，固件可快速，用戶指定的測試將會(huì)完整的保存下來。一般情況下，存儲空間是足夠大的。在存儲空間不夠用的情況下，可用商用SD記憶卡替換，現(xiàn)存測試文件可很方便地拷貝到容量更大的SD記憶卡。
