適配用于日立F-2700，F(xiàn)-4500，F(xiàn)-4600和F-7000，
用于微量粉末和薄膜材料測試；粉末可以回收。少量樣品測試的準確性和數(shù)據(jù)重現(xiàn)性。
可以避免少了粉末樣品測量時候可能導(dǎo)致的樣品倉污染。適合于納米材料和發(fā)光粉體的測量。
粉末用量約10ul。
用于微量粉末和薄膜材料測試；粉末可以回收。少量樣品測試的準確性和數(shù)據(jù)重現(xiàn)性。
可以避免少了粉末樣品測量時候可能導(dǎo)致的樣品倉污染。適合于納米材料和發(fā)光粉體的測量。
粉末用量約10ul。
