DSYM-2主要用于半導(dǎo)體硅晶片檢測、LCD液晶屏檢測、實驗室材料分析及其他精密工程檢測領(lǐng)域，可對樣品進行明場、暗場及簡易偏光觀察。
1、系統(tǒng)采用無限遠(yuǎn)平場消色差、長工作距、明暗場兩用物鏡，成像清晰、像面平坦；
2、配備反射式柯拉照明系統(tǒng)，為不同倍率的物鏡提供均勻充足的照明；
3、正像三通觀察筒，25°傾斜，大的了觀察的舒適性與操作的適應(yīng)性；
4、配備了6"帶離合器機械平臺，行程158＊158mm，可快速移動；
5、人機學(xué)設(shè)計，高剛性鏡臂，”Y“型底座，調(diào)焦機構(gòu)采用前置式操作控制，粗微調(diào)同軸；
6、光源采用寬電壓數(shù)字調(diào)光技術(shù)，具有光強設(shè)定與復(fù)位功能；
7、可選配攝影攝像裝置、簡易偏光裝置、干涉濾光片、測微尺等附件，拓展應(yīng)用領(lǐng)域。
1、系統(tǒng)采用無限遠(yuǎn)平場消色差、長工作距、明暗場兩用物鏡，成像清晰、像面平坦；
2、配備反射式柯拉照明系統(tǒng)，為不同倍率的物鏡提供均勻充足的照明；
3、正像三通觀察筒，25°傾斜，大的了觀察的舒適性與操作的適應(yīng)性；
4、配備了6"帶離合器機械平臺，行程158＊158mm，可快速移動；
5、人機學(xué)設(shè)計，高剛性鏡臂，”Y“型底座，調(diào)焦機構(gòu)采用前置式操作控制，粗微調(diào)同軸；
6、光源采用寬電壓數(shù)字調(diào)光技術(shù)，具有光強設(shè)定與復(fù)位功能；
7、可選配攝影攝像裝置、簡易偏光裝置、干涉濾光片、測微尺等附件，拓展應(yīng)用領(lǐng)域。
其他說明
| 光學(xué)系統(tǒng) | 無限遠(yuǎn)色差校正光學(xué)系統(tǒng) | |
| 物鏡 | 無限遠(yuǎn)平場消色差,長工作距金相物鏡(明暗場兩用),5X,10X,20X,50X,80X | |
| 目鏡 | 高眼點平場目鏡,PL10X,線視場φ22mm(標(biāo)配) 高眼點平場目鏡,PL10X,線視場φ23mm 高眼點平場目鏡,PL15X,線視場φ16mm | |
| 觀察筒 | 正像三目,物的移動與像的移動一致,不會出現(xiàn)使用倒像觀察筒時物像方向相反而產(chǎn)生的錯覺, 避免操作失誤,工作效率.鉸鏈?zhǔn)?25°傾斜,分光比:雙目100%,三目100% | |
| 照明系統(tǒng) | 反射式柯拉照明,明暗場切換,帶簡易偏光接口,12V/100W鹵素?zé)?預(yù)置中心 采用數(shù)字調(diào)光,具有光強設(shè)定與復(fù)位功能,帶針孔光欄 | |
| 調(diào)焦機構(gòu) | 粗微調(diào)同軸,帶粗調(diào)上限位,松緊調(diào)節(jié)裝置和隨機限位裝置 粗調(diào)行程:33mm(焦后1mm),微調(diào):0.001mm 樣品高度:32mm | |
| 物鏡轉(zhuǎn)換器 | 內(nèi)定位,內(nèi)傾式,五孔,明暗場兩用物鏡轉(zhuǎn)換器 | |
| 載物臺 | 6英寸矩形,機械移動平臺200mmX200mm,移動行程:158mmX158mm 低位同軸調(diào)節(jié),帶離合器控制手柄,可快速移動 | |
| 機架 | 的人機工程學(xué)設(shè)計,高剛性鏡臂,"Y"型底座,前置式操作控制 | |
| 選購附件 | 攝影攝像裝置,簡易偏光裝置,干涉濾光片,測微尺, 濾(IF-G,IF-B,IF-Rl),0.1mm十字分劃尺,網(wǎng)格板等 | |
