簡(jiǎn)介

采用的微打孔懸臂近場(chǎng)針尖獲得低于衍射限的光學(xué)分辨率；模塊化，可與共焦拉曼、原子力顯微鏡在一臺(tái)儀器，通過物鏡轉(zhuǎn)輪在不同的模式之間轉(zhuǎn)換，無需轉(zhuǎn)移或接觸樣品；懸臂采用遠(yuǎn)程控制的完善的光束偏轉(zhuǎn)原理，在其設(shè)有空心棱錐體光圈，大小為100納米(可選)，能同時(shí)獲取地形和光學(xué)圖像；在分辨率，傳輸性，便于操作和穩(wěn)定性上顯著勝過標(biāo)準(zhǔn)光纖探頭。

詳細(xì)說明：

以Zeiss顯微鏡為基礎(chǔ)的德國(guó)WITec Alpha300-SM近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡，近場(chǎng)激發(fā)光路為正置共焦顯微鏡加設(shè)計(jì)的近場(chǎng)物鏡頭，采用懸臂梁近場(chǎng)光學(xué)針尖，近場(chǎng)光激發(fā)強(qiáng)度高于光纖針尖2-3個(gè)數(shù)量級(jí)，很了近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡信號(hào)過弱的問題，堅(jiān)固的近場(chǎng)針尖加柔韌的懸臂梁，經(jīng)典的原子力顯微鏡反饋模式，帶來逼近和測(cè)量時(shí)的優(yōu)異的性和穩(wěn)定性； AlphaSM集中而且不相互干擾地提供了共焦光學(xué)、近場(chǎng)光學(xué)、原子力三種顯微測(cè)試模式，各取三種顯微模式之所長(zhǎng)，相互比較，相互驗(yàn)證。

表面等離子波近場(chǎng)成像

傳統(tǒng)光纖近場(chǎng)針尖的一些問題：

1）光耦合效率不高，直接影響近場(chǎng)信號(hào)強(qiáng)度
2）拉光纖無法重復(fù)性
3）光纖尖很容易被破壞
Witec的懸臂梁式近場(chǎng)針尖：

1）光耦合效率比光纖近場(chǎng)針尖高2-3數(shù)量級(jí)，很上了近場(chǎng)信號(hào)過弱的問題

2）近場(chǎng)針尖堅(jiān)固，懸臂梁柔韌，甚至在有外力碰撞下也不會(huì)破壞

3）制造針尖重復(fù)性好

4）采用原子力顯微鏡的反饋模式，且穩(wěn)定

用戶可以在不移動(dòng)樣品的情況下方便地切換近場(chǎng)，共焦、原子力顯微鏡模式

WITec的模塊化軟件智能化控制綜合系統(tǒng)的功能，使數(shù)據(jù)完整和完成圖像后處理。