簡(jiǎn)介
采用的微打孔懸臂近場(chǎng)針尖獲得低于衍射限的光學(xué)分辨率;模塊化,可與共焦拉曼、原子力顯微鏡在一臺(tái)儀器,通過物鏡轉(zhuǎn)輪在不同的模式之間轉(zhuǎn)換,無需轉(zhuǎn)移或接觸樣品;懸臂采用遠(yuǎn)程控制的完善的光束偏轉(zhuǎn)原理,在其設(shè)有空心棱錐體光圈,大小為100納米(可選),能同時(shí)獲取地形和光學(xué)圖像;在分辨率,傳輸性,便于操作和穩(wěn)定性上顯著勝過標(biāo)準(zhǔn)光纖探頭。
詳細(xì)說明:
以Zeiss顯微鏡為基礎(chǔ)的德國(guó)WITec Alpha300-SM近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡,近場(chǎng)激發(fā)光路為正置共焦顯微鏡加設(shè)計(jì)的近場(chǎng)物鏡頭,采用懸臂梁近場(chǎng)光學(xué)針尖,近場(chǎng)光激發(fā)強(qiáng)度高于光纖針尖2-3個(gè)數(shù)量級(jí),很了近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡信號(hào)過弱的問題,堅(jiān)固的近場(chǎng)針尖加柔韌的懸臂梁,經(jīng)典的原子力顯微鏡反饋模式,帶來逼近和測(cè)量時(shí)的優(yōu)異的性和穩(wěn)定性; AlphaSM集中而且不相互干擾地提供了共焦光學(xué)、近場(chǎng)光學(xué)、原子力三種顯微測(cè)試模式,各取三種顯微模式之所長(zhǎng),相互比較,相互驗(yàn)證。
表面等離子波近場(chǎng)成像
傳統(tǒng)光纖近場(chǎng)針尖的一些問題:
1)光耦合效率不高,直接影響近場(chǎng)信號(hào)強(qiáng)度
2)拉光纖無法重復(fù)性
3)光纖尖很容易被破壞
Witec的懸臂梁式近場(chǎng)針尖:
1)光耦合效率比光纖近場(chǎng)針尖高2-3數(shù)量級(jí),很上了近場(chǎng)信號(hào)過弱的問題
2)近場(chǎng)針尖堅(jiān)固,懸臂梁柔韌,甚至在有外力碰撞下也不會(huì)破壞
3)制造針尖重復(fù)性好
4)采用原子力顯微鏡的反饋模式,且穩(wěn)定
用戶可以在不移動(dòng)樣品的情況下方便地切換近場(chǎng),共焦、原子力顯微鏡模式
WITec的模塊化軟件智能化控制綜合系統(tǒng)的功能,使數(shù)據(jù)完整和完成圖像后處理。











