◆短的數(shù)秒鐘內(nèi),全檢出組裝電路板(loaded PC board)上件-電阻、電容、電感、電晶體、二體、穩(wěn)壓二體、光偶器、繼電器等件,是否在我們設(shè)計(jì)的規(guī)格內(nèi)運(yùn)作。
◆先期找出制程不良所在,如漏件(missing part)、折腳(bending)、短路(short)、錫橋(bridge)、反向(miss-oriented)、錯(cuò)件(wrong part)、開路(open)、焊接不良等問題,回饋到制程的。
◆述故障或不良資訊以印表機(jī)印出測試結(jié)果,包括故障位置、件標(biāo)準(zhǔn)值、測試值,以供維修人員參考??梢越档腿藛T對產(chǎn)品技術(shù)依賴度,不需對產(chǎn)品線路了解,照樣有維修能力。
配備 EC Jet 測試技術(shù),電解電容性測試:
以來,電解電容性(Polarity)測試一直是品保人員心中的痛。電解電容的反插在PCB上形同潛藏的不,不知何時(shí)有爆裂的危險(xiǎn)。傳統(tǒng)I對電解電容性測試可測率30~50%,不但測試時(shí)間長,且漏判率高,而采用人工目視檢查亦同樣耗時(shí)而不。
針對實(shí)裝電路板電解電容性和并聯(lián)電容漏件測試,提出整體解決方案,可測率趨近于100%,測試速度快而,真正解決您生產(chǎn)線電解電容測試的問題。針對電解電容,可測率趨近100%固態(tài)爆電解電容性趨近100%測試并聯(lián)電解電容漏件測試
強(qiáng)大的板示功能(Board View)
測試時(shí)可即時(shí)圖形顯示不良元件、腳位及針點(diǎn)位置,編輯時(shí)可隨點(diǎn)隨選或手動(dòng)輸入件編號、腳位、短/開路不良群組、網(wǎng)點(diǎn)列表等,方便問題查找及維修。
五線式測試技術(shù),可測四端元件
傳統(tǒng)二線、三線測試技術(shù),均只能作較粗略之量測,易造成量測的角。本公司機(jī)種采用五線式(5 wires)測試技術(shù)(2 wires信號,2 wires測量表頭,1 wire Guarding),可快速、量測。
ATPD自動(dòng)測試程式除錯(cuò)
ATPD自動(dòng)測試程式除錯(cuò)(Automatic Testing Program Debug),大幅節(jié)省DUT測試程式制作時(shí)間。
完善統(tǒng)計(jì)分析報(bào)表,監(jiān)控生產(chǎn)品質(zhì)
針對被測板可作每日、每月或特定期間之測試資料統(tǒng)計(jì)分析。根據(jù)不良件、不良針點(diǎn)排行,能很快找到生產(chǎn)問題點(diǎn)所在,地如針床品質(zhì)、DUT品質(zhì)等生產(chǎn)問題之監(jiān)控。
強(qiáng)全自動(dòng)學(xué)習(xí)功能(ATPD)
可快速完成程式調(diào)試,節(jié)約程式調(diào)試時(shí)間;的連板展開及子板偵測功能,連板展開后無需調(diào)試,子板偵測可實(shí)現(xiàn)對連板中缺板或無著件板自動(dòng)刪略測試
微電阻精密測試
使用四線測試技術(shù)可消除通道和針點(diǎn)接觸電阻,測試穩(wěn)定,小可測試0.05歐姆電阻。
完善的自我檢測功能,開機(jī)即對設(shè)備的量測卡、開關(guān)卡和I/O卡自檢,測試前設(shè)備的良好性。
S(option)----測試特點(diǎn)及系統(tǒng)選擇
可搭配S(Shop-Floor Information System)現(xiàn)場管理軟體連線
單步10個(gè)隔離點(diǎn),對待測體信號源分流提供了更強(qiáng)的隔離效果,了測試的穩(wěn)定?!?



