在EL檢測裝置中,使電流流經(jīng)電池單元從而使單元本身發(fā)光。記錄該狀態(tài)的圖象,然后進行圖象解析,可識別出裂縫產(chǎn)生的位置。通過這種方法,可判別肉眼無法確認的單元內(nèi)部的細小裂縫。
除了支持結(jié)晶硅型和薄膜硅型太陽能電池之外,還可應用于化合物太陽能電池??善焚|(zhì)管理的水準。
應用范圍
應用:
太陽能電池片工藝:
-正向偏壓:硅料缺陷、斷線、邊緣短路等測試
-反向偏壓:漏電流測試
太陽能組件工藝:-低效組件檢修
成像設(shè)備
斷柵隱裂
虛焊碎片
產(chǎn)品型號 YA-II
適用樣品晶體硅太陽能組件、薄膜硅型太陽能組件
分辨率:200萬像素
檢測:2秒成像;
測試面寬:1.98米 x 1.24米;(可以根據(jù)客戶需求定制
測試面積裂紋、碎片、斷柵、虛焊等缺陷
測試時間 2秒
恒流電源短路電流下,保護太陽能組件不受影響
電流范圍 0~10A 連續(xù)可調(diào)
電壓范圍 0~100V連續(xù)可調(diào)
環(huán)境溫度 5℃~35℃
相對濕度=85%RH




