•測量原理
-斜角入射干涉
•非接觸式檢測
-無破壞,無污染,不變形
•準確
-提供測量
•快速反應3~5秒出結(jié)果
-允許快速顯影,進行工藝監(jiān)控
-在制造中如出現(xiàn)質(zhì)量問題,可快速停止操作,不良品的出現(xiàn)
•靈活易操作,檢測品無
•快速提供的N次微觀計檢測
•NIST跟蹤系統(tǒng)進行校準和確認反常信號
-在臨界處也能檢測數(shù)據(jù)的完整
•多功能用途
-在實驗室或車間進行較寬物體的平坦度檢測
-擴散表面無問題
-30μm動態(tài)范圍(定單延伸范圍~100μm)
•廣泛的應用范圍:
-半導體行業(yè)——晶圓(Si,SiC,砷化鎵,藍寶石,氮化鎵),磁盤,光罩等;
-工業(yè)——燃料器(噴油嘴),滾動軸承,離合器,密封件等;
•多種被測物材料
-陶瓷,金屬,玻璃,聚合物等
-經(jīng)研磨,拋光,蝕刻等過程后的部件
•標準測量
-平坦度,譜線輪廓,球面半徑等。


