智慧型記憶體測(cè)試卡

主要規(guī)格：
◇　依據(jù)PC　Timing方式來(lái)進(jìn)行藉此能夠以客觀而明確的測(cè)試，且直接地呈現(xiàn)測(cè)試結(jié)果，而直接兼容于PC系統(tǒng)上。

◇　支援Single／Dual　Channel（64　Bits?。?28　Bits）支持范圍【DDR　PC200／PC266／PC333／P00／…】容量【4G　Byte】　位寬度：【128　Bit】

◇　提供Auto　Dete的設(shè)計(jì)
【CPU】─TYPE、ID、SPEED
【CHIP】─TYPE
【DRAM】─容量、頻率、CL、Trcd、Trp
【CHANNEL】─SINGLE、DUAL
讓使用者可以藉由此功能，可以地自動(dòng)判讀所測(cè)試之規(guī)格條件。

◇　提供Test　Pattern　Seleable的設(shè)計(jì)讓使用者可以自行依照Dram的特性、規(guī)格需求，來(lái)選擇特定之Test　Pattern，使本測(cè)試卡可以更地分析IC顆粒的好壞。

◇　提供Loop　Test的設(shè)計(jì)　
由于Dram顆粒的溫度特性及生產(chǎn)方式之不同，為Dram　Module穩(wěn)定工作于PC　System，
而設(shè)計(jì)Loop　Test。藉由重復(fù)的測(cè)試，使待測(cè)記憶模塊之溫升能其運(yùn)作正常動(dòng)作。