在上述系統(tǒng)基礎(chǔ)上,把點(diǎn)光斑做成200*200mm大光斑,用來測(cè)量晶硅等電池的整片光譜響應(yīng),解決當(dāng)前能測(cè)得電池片局部光譜響應(yīng)的問題;并依據(jù)國(guó)際電工法規(guī)(IEC)進(jìn)行光譜失配因子(Spectral Miatch Factor)的修正;依照Fraunhofer ISE照射光斑面積尺寸≥156×156 mm2,覆蓋整片電池,讓測(cè)試得到的光譜響應(yīng)數(shù)據(jù)更具科學(xué)性。
亮點(diǎn):光學(xué)器件是由英國(guó)BENTHAM制造
高性
高重復(fù)測(cè)量





