手持式涂鍍層測(cè)厚儀　CMI243介紹
　　
　　牛津儀器CMI233測(cè)量黑色金屬底材上的金屬鍍層厚度，用于緊固件、螺栓、汽車部件、齒輪、管件等表面鍍層。
　　
　　CMI243配置包括：
　　CMI243主機(jī)
　　ECP-M探頭及拆除指南
　　校準(zhǔn)用鐵上鍍鋅標(biāo)準(zhǔn)片組
　　選購(gòu)部件
　　SMTP-1探頭（磁感應(yīng)探頭）
　　RS232串行電纜
　　
　　技術(shù)規(guī)格：
　　準(zhǔn)確度：相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)片±3%
　　度：0.3%
　　分辨率：0.1μm（0.01mils）
　　電渦流：遵循DIN50984，BS5411　Part　3，ISO2360，ISO21968草案，ASTM　B499，ASTM　E376
　　存儲(chǔ)量：26，500條存儲(chǔ)讀數(shù)
　　單位：密耳（mil）、微米（μm），一鍵自動(dòng)轉(zhuǎn)換
　　統(tǒng)計(jì)顯示：讀數(shù)次數(shù)、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差、值
　　接口：RS-232串行輸出端口，波特率可調(diào)，用于至打印機(jī)或計(jì)算機(jī)
　　顯示：3位數(shù)液晶顯示屏，字體高度12.7mm（1/2"）
　　尺寸：長(zhǎng)×寬×高＝149×79.4×30.2mm
　　重量：0.26kg（9　oz）含電池
　　電池：9V堿性電池，65小時(shí)連續(xù)使用
　　
　　售后服務(wù)：
　　儀器享有自購(gòu)買之日計(jì)起為期1年的質(zhì)量期?！?

其他說明

CMI243探針狀況: CMI243的ECP-M探頭專為較難測(cè)量的金屬覆層設(shè)計(jì),此單探頭可以測(cè)量鐵質(zhì)底材上幾乎金屬覆層,例如鋅,鎳,銅,鉻和鎘.更小的探針為小的,形狀的或表面粗糙的件提供了便捷的測(cè)量. 小柱面半徑 工作高度 小測(cè)量面積直徑 小底材厚度 凸面 凹面 1.2mm (0.045") 3.5mm (0.135") 100mm (4") 2.5mm (0.09") 0.3mm (12mils)

操作范圍
鐵上鍍層	鍍層厚度范圍	探頭
Zn	0-38μm(0-1.5mil)	ECP-M
Ni	0-75μm(0-3.0mil)	ECP-M
Cd	0-38μm(0-1.5mil)	ECP-M
Cr	0-38μm(0-1.5mil)	ECP-M
Cu	0-10μm(0-0.4mil)	ECP-M
非磁性/Fe	0-1270μm(0-50mil)	SMP-1