CMI 760可用于測量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺式測厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來對表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度準(zhǔn)確和的測量。CMI 760臺式測量系統(tǒng)具有高的多功能性和可擴(kuò)展性,對多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測試的多種應(yīng)用需求。同時CMI 760具有的統(tǒng)計功能用于測試數(shù)據(jù)的整理分析。
CMI 760配置包括:
CMI 760主機(jī)
SRP-4探頭
SRP-4探頭替換用探針模塊(1個)
NIST的校驗用標(biāo)準(zhǔn)片。






