TR Scan在滿足測(cè)量的同時(shí),也了納米級(jí),幾微秒就可以獲得點(diǎn)三維圖形。正是因?yàn)槿绱丝斓乃俣?,消除了因振?dòng)帶來的誤差,由此克服光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)的傳統(tǒng)誤差。
其測(cè)量頭可兼容探針(接觸式測(cè)量),并可與其他光學(xué)測(cè)量傳感器互換使用,復(fù)合式的測(cè)量解決方案,可檢定各種表面結(jié)構(gòu),應(yīng)用于各行各業(yè):機(jī)械工業(yè)(加工表面),汽車,航天航空,表面涂敷,聚合涂層,光學(xué)元件,儀器,假肢制造,微型機(jī)電系統(tǒng),造紙,半導(dǎo)體,科研機(jī)構(gòu)以及計(jì)量單位。
Trimos®NaWare軟件控制測(cè)量過程及分析結(jié)果。模塊化的概念滿足不同的要求及持續(xù)性開發(fā)。NaWare能完成測(cè)量結(jié)果的分析評(píng)估,并能生成的檢測(cè)。
擁有國際的評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)程序來實(shí)時(shí)更新國際標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量合以下標(biāo)準(zhǔn):ISO(4287,4288,11562,1101,12085,13563,等),法國標(biāo)準(zhǔn)NF,制造標(biāo)準(zhǔn)CMO,ASME(B46.1)和DIN標(biāo)準(zhǔn);三維表面特征數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)ISO 25178系列通用


