CMI900／950系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種大的材料涂／鍍層測(cè)量?jī)x器，可應(yīng)用于材料的涂／鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析?；赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink　FP應(yīng)用軟件包，實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900／950主機(jī)的自動(dòng)化控制，分析中不需要任何手動(dòng)調(diào)整或手動(dòng)參數(shù)設(shè)定?？赏瑫r(shí)測(cè)定多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能允許用戶自定義多媒體分析格式，以滿足您特定的分析格式要求；如在分析中數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、值、小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK圖、直方圖、X-bar／R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式?！?
　　
　　CMI900／950系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測(cè)量點(diǎn)小可達(dá)0.025×0.051毫米。