AFT新一代便攜式電路板在線維修測試儀, 是一種通用的電路板故障檢測儀器,可以無圖紙資料情況下,直接在線測試電路板上集成電路的好壞,測試范圍包含常見的數(shù)字邏輯集成電路,集成運(yùn)算放大器,光耦,通訊接口類集成電路,電壓比較器,驅(qū)動器等芯片,AFT便攜式電路板維修測試儀是您開展無圖紙電路板維修的得力助手!

ASA(VI)曲線采集對比測試

一、ASA（VI）測試技術(shù)原理

ASA檢測技術(shù)是一種不依據(jù)電路板工作原理實(shí)現(xiàn)對電路板的器件級檢測方法。它實(shí)際上是目前常用萬用表電阻檢測法的自然擴(kuò)展.

萬用表故障檢測法通常是這樣的：先測出好板上元器件(含集成電路)管腳（實(shí)際是電路結(jié)點(diǎn)）的電阻、然后與故障板上相應(yīng)元器件(含集成電路)管腳的電阻進(jìn)行比較，根據(jù)兩者差異大小來判斷該結(jié)點(diǎn)上有無故障。

萬用表只能檢測在一個電壓（表內(nèi)電池電壓）下的電阻值，而半導(dǎo)體器件引腳的電阻是隨測試電壓的變化而變化的,具有非線性特征,不同測試電壓下的電阻未相同。

設(shè)想有上百塊萬用表，每塊表的電池電壓一樣,對每一個管腳，同時用這些表對照測試一遍，檢查在器件的整個工作電壓區(qū)間內(nèi)的阻是否發(fā)生了變化?這種測試方式大大了故障檢出率!

如果電壓為橫坐標(biāo)，電流為縱坐標(biāo)，把上百個測試點(diǎn)的數(shù)據(jù)表示在這個坐標(biāo)系上，就得到一條電阻曲線——叫做ASA曲線(或VI曲線)。比較好板和壞板相應(yīng)節(jié)點(diǎn)的曲線是否重合，從而判斷該節(jié)點(diǎn)上是否有故障——這就是ASA測試技術(shù)的基本原理。

二、ASA（VI）測試技術(shù)特點(diǎn)

1．不涉及電路原理圖，無需電路處于工作狀態(tài)；

2． 測試時不用給電路板(或被測IC)通電；

3． 不涉及被測元器件的功能，無論是數(shù)字的、模擬的、數(shù)?；旌系?、功能已知的、未知的等等，均可測試；

4． 它是逐電路結(jié)點(diǎn)（按器件管腳）進(jìn)行測試的，基本上不受元器件封裝的限制。

三、距離感受常見元器件的VI曲線

1．電阻

I=U/R說明在電阻負(fù)載上，電壓和電流是線性關(guān)系。顯示在VI平面上，就是一條過點(diǎn)的斜線。其斜率大小表示阻值。

2．二管

當(dāng)v沿正向增加時，電流按指數(shù)規(guī)律上升；v當(dāng)向負(fù)向增加時，i基本等于負(fù)的反向飽和電流。為一常數(shù)。二管的VI曲線如下：

3．電容

4．電阻并二管

5．二管并反向二管

6．電阻電容并聯(lián)

AFT-201測試儀VI曲線實(shí)測效果圖：

四、AFT-201上的ASA技術(shù)特色

1、TOOLTIPS技術(shù)的應(yīng)用，即鼠標(biāo)指向當(dāng)前測試點(diǎn)后，提示出測試電壓和電流值

2、雙探棒對比測試，曲線在坐標(biāo)上可以重合或錯位顯示

3、能夠自動匹配靈敏曲線

為了得到較高靈敏度的曲線，一般要調(diào)整測試信號的輸出電阻。普通測試儀只能手動選擇曲線的輸出阻，這樣很麻煩，另外當(dāng)曲線形狀不規(guī)則時，往往很難直觀判斷什么樣的曲線靈敏度更高一些；AFT-201測試儀能夠自動調(diào)整測試信號的輸出電阻,類似于萬用表的自動電阻檔；

    大量的維修實(shí)踐表明，VI曲線的整體走勢越接近45度，反映故障的靈敏度越高； 如同使用指針式萬用表,指針越接近位置，反映故障越靈敏;

4、具有電路板圖像建庫測試平臺

支持按設(shè)備、子設(shè)備、電路板多級建庫方式,對維修工作的管理!

可以在電路板照片上把任意節(jié)點(diǎn)的數(shù)據(jù)特征采集下來，并儲存到計算機(jī)上，為以后對比測試提供便利;支持測試夾建庫方式,大大測試效率!

可實(shí)現(xiàn)圖文并茂的板導(dǎo)航、器件導(dǎo)航、管腳導(dǎo)航信息管理，便于積累維修經(jīng)驗(yàn)，實(shí)現(xiàn)經(jīng)典共享！

能夠自動生成測試記錄，輕松復(fù)現(xiàn)故障檢測現(xiàn)場

支持電路板庫版權(quán)管理。

一個電路板庫的質(zhì)量，對后期的檢測效率、故障檢出率影響很大。但建立一個高質(zhì)量的電路板庫，通常需要花費(fèi)大量的精力；為了保護(hù)用戶的建庫權(quán)益，AFT-201測試儀可以生成一個享有版權(quán)的庫文件，方便上市交易，即可以授權(quán)（或出售）給其它用戶使用.

5、器件離線建庫測試平臺

    不論是單個元器件的故障檢測，還是來料元器件的質(zhì)量篩選，AFT-201測試儀所具有的器件離線建庫測試都是當(dāng)今檢測元器件簡便經(jīng)濟(jì)的檢測手段之一；

AFT-201測試儀內(nèi)置集成電路VI特性曲線編輯器，能夠快速擴(kuò)充集成電路VI曲線標(biāo)準(zhǔn)庫，為集成電路的測試或篩選工作提供了方便；

AFT-201測試儀內(nèi)置40路測試通道, 能夠快速實(shí)現(xiàn)對各類集成電路的采集和對比測試; 通道屬性為雙屬性,支持對IC的多端叉掃描測試模式;支持常見集成電路的封裝,如DIP、SOP、SSOP、PLCC、QFP、LQFP等;

支持動態(tài)選擇接地管腳;能夠識別和處理不穩(wěn)定曲線

不穩(wěn)定曲線是指:由于被測電路本身的原因，導(dǎo)致在同樣的測試條件下，每次測到的曲線相同,這樣就容易對一些好的器件造成誤判;

導(dǎo)致不穩(wěn)定曲線的原因主要有以下三種：

a．自激導(dǎo)致的不穩(wěn)定

電路結(jié)點(diǎn)的電特征千差萬別，ASA測試將一個正弦波注入電路結(jié)點(diǎn)，某個結(jié)點(diǎn)正好在這個頻率下出現(xiàn)自激是可能的;自激曲線的現(xiàn)象是大面積散點(diǎn)，并且沒有終的穩(wěn)定狀態(tài)。更換測試信號頻率即可消除。

b．過渡過程導(dǎo)致的不穩(wěn)定

當(dāng)結(jié)點(diǎn)的充、放電常數(shù)相差較大時所導(dǎo)致。這種曲線的現(xiàn)象是當(dāng)反復(fù)測試時，曲線逐步向一個穩(wěn)定狀態(tài)靠近，有一個終的穩(wěn)定狀態(tài)。

c．測試MOS器件時的不穩(wěn)定

導(dǎo)致這種不穩(wěn)定的原因是器件中的MOS晶體管隨測試信號上升、下降的開關(guān)過程不同。

這種不穩(wěn)定的現(xiàn)象是曲線上下跳，似乎是兩條穩(wěn)定曲線輪流出現(xiàn)一樣。測試時只要把器件的電源腳和地腳都接地即可消除。

支持按不同管腳設(shè)置不同的測試參數(shù)

VI 曲線測試參數(shù)是指信號的幅度、輸出阻、頻率等。

并非同一個器件的管腳都適用于同樣的測試參數(shù)。舉個典型的例子：集電開路器件的輸出往往耐壓較高，多用于驅(qū)動數(shù)碼管、繼電器等，而輸入一般是標(biāo)準(zhǔn)電平，所以對于輸出、輸入的測試信號的幅度應(yīng)該不同，才能檢測的目的。

AFT-201測試儀為一些的集成電路(或測試情況)提供了個性化的解決方案，能夠按不同的管腳設(shè)定不同的參數(shù);

二管(DIODE)測量及對比測試

DIODE測試不是指單純測試一個二管，而是借鑒萬用表二管檔測量技術(shù)來檢測電路板上元器件的好壞； AFT-201測試儀不能實(shí)現(xiàn)單獨(dú)檢測一個電路節(jié)點(diǎn)的二管導(dǎo)通電壓,而且還能輕松實(shí)現(xiàn)雙探棒對比測試;

利用二管擋對比檢測電路板上元器件的故障，是維修中比較常用的檢測手段之一。尤其在測試有容性、感性的節(jié)點(diǎn)時，二管擋的測試相對VI測試尤為敏感,此手法是對VI曲線測試的一個很有利的補(bǔ)充;

支持存儲,方便以后對比測試

LCR測試

1、電容測試

在實(shí)際應(yīng)用中，電容器并不是一個純電容，其內(nèi)部還有等效電阻，如R（等效串聯(lián)電阻）、EPR（等效并聯(lián)電阻），也就是我們通常說的漏電電阻；

一個實(shí)際電容通?？梢缘刃缦码娐罚?/span>

容量達(dá)標(biāo)（在標(biāo)稱值范圍內(nèi)）的電解電容，它的R和EPR未合格，所以，實(shí)際中會出現(xiàn)測試容量沒問題，而上機(jī)卻不能正常使用的情況。在這三個參數(shù)中，R和制造工藝密切相關(guān)。測試、電容，從容量和EPR上往往觀察不到明顯差異，其差異常體現(xiàn)在R的不同上。

能夠在線測量電容的容量

EPR測試能指定工作電壓

EPR反映電容的漏電大小。EPR越大，漏電越小，所以EPR的值越大越好。EPR隨容量增加略有減小，但通常應(yīng)在兆歐姆以上。另外，故障電容的漏電大小有時還和測試電壓相關(guān)——在小電壓下不漏電，增加測試電壓到程度漏電突然激增，所以，測試EPR的電壓不低于其實(shí)際工作電壓。

2、電感測試

3、電阻測試

能夠在線測量電阻阻值

4、小電阻測試

集成電路功能測試/性能參數(shù)測試

AFT-201測試儀支持對常見數(shù)字邏輯器件、運(yùn)算放大器、光耦等集成電路的功能測試，對部分器件可以進(jìn)行性能參數(shù)(負(fù)載能力等)測試;器件庫可以應(yīng)客戶的要求進(jìn)行擴(kuò)充；