JY-3232薄膜開(kāi)關(guān)測(cè)試儀，又稱為薄膜開(kāi)關(guān)智能檢測(cè)儀，是用于檢測(cè)薄膜開(kāi)關(guān)基本性能的一種儀器，采用的測(cè)試方式及全中文的操作介面，因此具有測(cè)試速度快，性高，操作簡(jiǎn)單，使用方便等特點(diǎn)。
　　
　　它能快速檢測(cè)各種不同類型，不同出線關(guān)系的薄膜開(kāi)關(guān)／矩陣開(kāi)關(guān)的通路，短路，斷路，連線以及電阻大（阻值標(biāo)），微短路，緣不良等參數(shù)。適用于產(chǎn)線批量檢測(cè)及來(lái)料檢測(cè)，還可對(duì)客人提供的樣品作電性能檢測(cè)，可測(cè)試出樣品的按鍵與出口線的關(guān)系，按鍵的接觸電阻及緣電阻值。
　　
　　本測(cè)試儀有兩種測(cè)試模式，不能測(cè)試成品的薄膜開(kāi)關(guān)（用模式B），還能測(cè)試半成品的薄膜開(kāi)關(guān)（用模式A，目前我公司有此功能），其中模式A中又分為正常測(cè)試模式和自動(dòng)測(cè)試模式，模式B中又分為常速測(cè)試模式和快速測(cè)試模式，測(cè)試方式靈活多樣，適應(yīng)多種不同的產(chǎn)品。
　　
　　產(chǎn)品用途：
　　測(cè)試成品薄膜開(kāi)關(guān)（包括電腦鍵盤）（與JY-1616測(cè)試方法一樣，詳細(xì)請(qǐng)點(diǎn)擊）并支持劃測(cè)（詳細(xì)請(qǐng)點(diǎn)擊）
　　還可與JY-6032組成薄膜開(kāi)關(guān)自動(dòng)測(cè)試控制系統(tǒng)
　　測(cè)試半成品薄膜開(kāi)關(guān)（與JY-1616測(cè)試方法一樣，詳細(xì)請(qǐng)點(diǎn)擊）
　　測(cè)試矩陣式按鍵電路板（與測(cè)試成品薄膜開(kāi)的原理一樣）
　　測(cè)試軟性缐路板，簡(jiǎn)單的 PCB板/PCB碳油板（與測(cè)試半成品薄膜開(kāi)的原理一樣）
　　測(cè)試各類不過(guò)32PIN的缐材（如UBS等各種電腦連接缐）（與測(cè)試半成品薄膜開(kāi)的原理一樣）