Surftest（表面粗糙度測量儀）SJ-500P/SV-2100M4（PC 型）
　　178系列—帶有 PC（個人電腦）
　　高、表面粗糙度測試儀充分利用分析軟件優(yōu)勢。SJ-500P是單機，而SV-2100M4則是一種臺式設(shè)備，含手動精密立柱。
　　特點
　　控制部件中的內(nèi)置操縱桿使得定位快捷簡便。測量小孔內(nèi)側(cè)時可使用手動旋鈕對細(xì)小測針的位置進(jìn)行微調(diào)。
　　表面粗糙度測量條件的設(shè)置簡單易行。利用簡單的輸入功能可按ISO/JIS粗糙度標(biāo)準(zhǔn)計算繪圖指令號。復(fù)雜的測量條件設(shè)置很容易輸入，只要由表面粗糙度菜單中選擇繪圖指令號即可。
　　技術(shù)參數(shù)：SJ-500P
　　X1軸（驅(qū)動部）
　　測量范圍：50mm
　　分辨率：0.05μm
　　長度基準(zhǔn)：線性編碼器
　　驅(qū)動速度：0-20mm/s
　　測量速度：0.02-5mm/s
　　移動方向：向后
　　直線度：0.2μm/50mm
　　定位：&plun;1.5o（傾角，有DAT 功能）
　　30mm（向上／向下）
　　檢出器
　　范圍／分辨率：800μm/0.01μm，80μm/0.001μm，8μm/0.0001μm
　　檢測方法：無軌／有軌測量
　　測力：參見性能參數(shù)表
　　測針針尖：參見性能參數(shù)表
　　導(dǎo)頭曲率半徑：40mm
　　類型：差動電感式
　　驅(qū)動裝置的控制：PC操作
　　
　　技術(shù)參數(shù)：SV-2100 M4（PC型）
　　X1軸（驅(qū)動部）
　　測量范圍：100mm
　　分辨率：0.05μm
　　長度基準(zhǔn)：線性編碼器
　　驅(qū)動速度：0-40mm/s
　　測量速度：0.02-5mm/s
　　移動方向：向后
　　直線度：0.15μm/100mm
　　Z2軸（立柱）
　　類型：手動操作
　　垂直移動：350mm
　　檢出器
　　范圍／分辨率：
　　800μm/0.01μm，80μm/0.001μm，8μm/0.0001μm
　　檢測方法：
　　無軌／有軌測量
　　測力：
　　參見性能參數(shù)表
　　測針針尖：
　　參見性能參數(shù)表
　　類型：
　　差動電感式
　　驅(qū)動裝置的控制：PC 操作
　　評價能力：SURFPAK-SV
　　評價輪廓：
　　P（原始輪廓），R（表面粗糙度輪廓），WC，WCA，WE，WEA，DIN4776輪廓，包絡(luò)殘余線，粗糙度motif，波形motif
　　
　　評價參數(shù)：
　　Ra，Rq，Rz，Ry，Rz（JIS），Ry（DIN），Rc，Rp，Rpmax，Rpi，Rv，Rvmax，Rvi，Rt，Rti，R3z，R3zi，R3y，S，Pc（Ppi），，HSC，mr，δc，plateau ratio，mrd，Rk，Rpk，Rvk，Mr1，Mr2，Δa，Δq，la，lq，Sk，Ku，Lo，Lr，A1，A2
　　粗糙度motif 參數(shù)：Rx，R，AR，SR，SAR，NR，NCRX，
　　波形motif 參數(shù)：Wte，Wx，W，AW SW，SAW，NW
　　分析圖表：
　　ADC，BAC1，BAC2，功率譜圖，自相關(guān)圖，Walsh 功率譜圖，Walsh 自相關(guān)圖，傾斜分布圖，局部峰值分布圖，參數(shù)分布圖
　　濾波類型 2CR-75%，2CR-50%，2CR-75%（相位校正），2CR-50%（相位校正），高斯-50%
　　截止波長*：
　　lc：0.025mm，0.08mm，0.25mm，0.8mm，2.5mm，8mm，25mm
　　fl：0.08mm，0.25mm，0.8mm，2.5mm，8mm，25mm
　　fh：0.08mm，0.25mm，0.8mm，2.5mm，8mm
　　取樣長度*：
　　0.025mm，0.08mm，0.25mm，0.8mm，2.5mm，8mm，
　　25mm
　　數(shù)據(jù)補償功能：
　　傾斜補償，R平面（曲面）補償，橢圓補償，拋物線補償，雙曲線補償，二次曲線自動補償，多項式補償，多項式自動補償
　　*可在0.025至移動長度間指定任意長度