PTQ-8晶體管綜合快速篩選臺(tái)已在原快速篩選儀器上作了大大改進(jìn)，不但能按規(guī)定進(jìn)行晶體管熱敏參數(shù)的快篩，而且可作常規(guī)直流參數(shù)測(cè)試儀器使用，具有的測(cè)試量程和，只要調(diào)用被測(cè)器件的型號(hào)，就能進(jìn)入快速連續(xù)檢測(cè)。當(dāng)被測(cè)器件由于穿通、二次擊穿和熱擊穿的，具有自動(dòng)保護(hù)能力?！?
　　
　　主要功能及技術(shù)指標(biāo)：　　
　　1、能測(cè)試篩選PNP、NPN大、中、小功率三管。中文菜單式界面，操作簡(jiǎn)便。
　　
　　2、能性自動(dòng)測(cè)試、篩選VBE、VBC、hFE1、hFE2、ICEO、ICBO、IEBO、V（BR）CEO、V（BRCBO、V（BR）EBO、VC、VB的常溫、高溫值及常溫、高溫值變化量或變化率。并能任意選測(cè)或部分參數(shù)；若測(cè)常溫參數(shù)，每只器件1秒多。hFE1、hFE2　可以自動(dòng)分10檔。
　　
　　3、可任意設(shè)定器件型號(hào)、測(cè)試條件及判據(jù)，并保存在系統(tǒng)中，通過(guò)瀏覽方式任意修改、調(diào)用。
　　
　　4、測(cè)試結(jié)果在大屏幕液晶顯示器（122×92mm）上顯示，并標(biāo)識(shí)累計(jì)測(cè)試總量；標(biāo)器件自動(dòng)聲光報(bào)警，并在液晶屏上顯示告警信息。
　　
　　5、每項(xiàng)參數(shù)的測(cè)試結(jié)果通過(guò)統(tǒng)計(jì)可獲得值、小值、平均值。
　　
　　6、器件型號(hào)、測(cè)試時(shí)間、測(cè)試條件、失效判據(jù)、檢測(cè)結(jié)果及器件編號(hào)，可通過(guò)打印機(jī)打印輸出，或通過(guò)電腦串行口保存在電腦中。標(biāo)器件自動(dòng)標(biāo)識(shí)。
　　
　　7、測(cè)試時(shí)選擇器件型號(hào)即可進(jìn)入連續(xù)檢測(cè)，測(cè)試口有否被測(cè)器件自動(dòng)識(shí)別。
　　
　　主要技術(shù)指標(biāo)：　
　　VBE、VBC　　
　　測(cè)試范圍：0.1V～1V　
　　測(cè)試條件：1mA～1A
　　
　　hFE1、hFE2
　　測(cè)試范圍：5～500倍（可定制測(cè)達(dá)林頓管）
　　測(cè)試條件：VCE：1V～25V，IC：1mA～6A
　　
　　ICEO、ICBO　、IEBO
　　測(cè)試范圍：0.1uA～10mA
　　測(cè)試條件：10V～1000V（VEB：1V～100V）
　　
　　V（BR）CEO、V（BR）CBO、V（BR）EBO
　　測(cè)試范圍：10V～1000V（V（BR）EBO：5V～100V）
　　測(cè)試條件：50uA～10mA　　
　　
　　VC、VB
　　測(cè)試范圍：0.1V～3V
　　測(cè)試條件：IC：10mA～6A，　IB：1mA～1A
　　加溫PCM范圍：VCE：5V～25V，IC：0.1A～6A　　
　　加溫時(shí)間T：0～10S