SII于1978年于其他廠商,研究開發(fā)出日本臺熒光X射線鍍層厚度測量儀-SFT155.經(jīng)過二十多年的努力,現(xiàn)在的熒光X射線鍍層厚度測量儀能夠準(zhǔn)確地測量微小面積的鍍層厚度。現(xiàn)已為電子部件、印刷電路板、汽車部件等相關(guān)廠商提供了5000臺以上的測量儀,深受用戶與好評。,“SFT”幾乎成為鍍層厚度測量儀的代名詞。
主要特點
薄膜FP軟件:可對應(yīng)于含無鉛焊錫在內(nèi)的合金電鍍或多層電鍍的測量,應(yīng)用范圍廣泛。
可打印檢測:利用Microsoft的Office操作系統(tǒng)可將檢測工作之便簡單快速地打印出來。
激光自動對焦功能:輕輕按一下激光對焦按鈕,就可自動進(jìn)行對焦。
沖撞功能:對于測量有高低差的樣品時,配置了為樣品和儀器沖撞的自動停止功能
技術(shù)參數(shù)
可測元素:Ti~Bi
X射線管:管電壓45KV,管電流1mA
檢測器:比例計數(shù)管
儀器校正:自動校正
準(zhǔn)直器:〇型:0.1,0.2,0.3mmф
□型:0.2x0.05,0.05x0.2mm
樣品觀察:CCD攝像機(jī)
濾波器:Co,自動切換
X-ray Station:電腦,17寸CRT
測量功能:自動測量,中心檢查
補(bǔ)正功能:底材補(bǔ)正,已知樣品補(bǔ)正
定:KLM標(biāo)示,能譜比較標(biāo)示。
數(shù)據(jù)處理功能:MS-EXCEL標(biāo)準(zhǔn)配置
檢測自動生成功能:MS-WORD標(biāo)準(zhǔn)配置
應(yīng)用領(lǐng)域:
1、分析電子部品電鍍層的厚度
2、各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析
3、各鍍層的成分比例分析
4、滿足歐盟RoHS指令,以及各國針對電子電機(jī)產(chǎn)品中有有害物質(zhì)含量的快速檢測分析,例如CD、Pb、Hg、Cr、Br等含量的快速分析。
5、針對目前IEC指令中之無鹵素含量要求標(biāo)準(zhǔn),利用XRF可建立快速、非破壞的檢測方法,滿足廠商簡易的需求。







