產(chǎn)品功能：
用以測試太陽能級(jí)硅材料和硅片的少數(shù)載流子壽命
產(chǎn)品特點(diǎn)：
采用微波光電導(dǎo)衰退法；擁有發(fā)明；
采用紅外大功率單色激光器；
測試數(shù)據(jù)一致性好。
主要參數(shù)：
測試范圍：單片或塊狀硅材料；擴(kuò)散形成P-N后的太陽電池
測試方式：無接觸，單點(diǎn)測試
少子壽命：0.1um-1ms
測試速度：2秒／點(diǎn)
測試不重復(fù)度：≤2％
用以測試太陽能級(jí)硅材料和硅片的少數(shù)載流子壽命
產(chǎn)品特點(diǎn)：
采用微波光電導(dǎo)衰退法；擁有發(fā)明；
采用紅外大功率單色激光器；
測試數(shù)據(jù)一致性好。
主要參數(shù)：
測試范圍：單片或塊狀硅材料；擴(kuò)散形成P-N后的太陽電池
測試方式：無接觸，單點(diǎn)測試
少子壽命：0.1um-1ms
測試速度：2秒／點(diǎn)
測試不重復(fù)度：≤2％
