X-Strata是結(jié)構(gòu)緊湊、堅(jiān)固耐用、用于質(zhì)量控制的的臺(tái)式X射線熒光分析設(shè)備,提供簡(jiǎn)單、快速、的鍍層厚度測(cè)量和材料分析。
它在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出卓越的分析能力,可進(jìn)行多鍍層厚度的測(cè)量。
鍍層測(cè)厚儀X-Strata系列提供:
分析:無(wú)需樣品制備
經(jīng)行業(yè)的技術(shù)和性,每年都帶來(lái)收益
操作簡(jiǎn)單,要簡(jiǎn)單的培訓(xùn)
分析三步驟
杰出的分析準(zhǔn)確性和性
在鍍層測(cè)厚領(lǐng)域擁有過(guò)20年的
使用大、操作簡(jiǎn)單的X射線熒光光譜儀進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量,質(zhì)量的同時(shí)降。







