2:測(cè)試項(xiàng)目多達(dá)14項(xiàng)(充電、充電恢復(fù)、放電、放電恢復(fù)、過電流、短路保護(hù)時(shí)間、自耗、內(nèi)阻、識(shí)別電阻、熱敏電阻、碼片、充電、放電、過電流)。
3:測(cè)試高:充電、放電、恢復(fù)電壓可到1mv.過電流10MA、內(nèi)阻1毫歐、自耗0.1UA.
4:過充電壓測(cè)試范圍寬(3.40—4.50v),過放電壓(1.7—3.2v),不但能測(cè)試普通板,新出的磷酸鐵鋰保護(hù)板也能測(cè)試。
5:測(cè)試速度快:保護(hù)IC充電在400ms以內(nèi)每板需0.5秒,時(shí)間在1.2秒的需2秒,快速測(cè)試時(shí)可以設(shè)置每一項(xiàng)的范圍,如果測(cè)量結(jié)果出范圍儀器則發(fā)出報(bào)警提示為不良品。
6:?jiǎn)坞p節(jié)通用,測(cè)試項(xiàng)目可自由選擇。儀器升級(jí)。
7:快速測(cè)試時(shí),過充電壓的下限值與過放電壓的上限值都是起作用的。
8:保修一年、可按需求定做。







