G手機(jī)測(cè)試卡,支持G/DCS/PCN, G測(cè)試卡是專門為G手機(jī)（ME）造制商用于生產(chǎn)目的而研制的。它具有質(zhì)量，壽命長(zhǎng)，遵從G標(biāo)準(zhǔn)的特點(diǎn)。
下面，從技術(shù)角度說(shuō)明它的特性：
采用國(guó)際半導(dǎo)體廠商生產(chǎn)的芯片，3V/5V兼容5-6觸點(diǎn)兼容設(shè)計(jì)，適合手機(jī).
配以COS系統(tǒng)，遵從G對(duì)手機(jī)，SIM卡的各項(xiàng)規(guī)范的半導(dǎo)體硅襯，卡片可以承受10牛頓／每平方米的壓力。（G標(biāo)準(zhǔn)為4牛頓／每平方米）適合工業(yè)化生產(chǎn)線使用
采用長(zhǎng)壽命EEPROM，讀寫次數(shù)在10萬(wàn)次以上。（G標(biāo)準(zhǔn)只要求3萬(wàn)次，按一般生產(chǎn)線測(cè)量要求，每部手機(jī)的讀寫次數(shù)為10次，可測(cè)一萬(wàn)部手機(jī)。）
芯片保護(hù)層，卡片，電子攻擊。耐壓6.5V以上卡片涂層，靜電（D），水（48小時(shí)浸泡試驗(yàn)）卡體材料（ABS混合高溫PVC），，45度可正常工作4小時(shí)以上。75度溫度沖擊試驗(yàn).
