北京羲和陽(yáng)光科技發(fā)展有限公司
免企業(yè)未認(rèn)證證營(yíng)業(yè)執(zhí)照未上傳
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北京羲和陽(yáng)光科技發(fā)展有限公司
免企業(yè)未認(rèn)證證營(yíng)業(yè)執(zhí)照未上傳
經(jīng)營(yíng)模式：工廠
所在地：北京
主營(yíng)產(chǎn)品：硅料檢測(cè)分選儀;硅片電阻率測(cè)試儀;薄膜方塊電阻率測(cè)試儀;硅芯/硅棒電阻率測(cè)試儀;少子壽命測(cè)試儀;
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藍(lán)寶石膜厚測(cè)試儀
■利用反射干涉的原理進(jìn)行無(wú)損測(cè)量
■可測(cè)量薄膜厚度及光學(xué)常數(shù)，測(cè)量達(dá)到埃級(jí)的分辯率
■操作簡(jiǎn)單，界面友好，是 目前市場(chǎng)上具性價(jià)比的膜厚測(cè)量?jī)x設(shè)備
■設(shè)備光譜測(cè)量范圍從近紅外到紫外線，波長(zhǎng)范圍從200nm 到1700nm可選
■并有手動(dòng)及自動(dòng)機(jī)型可選，應(yīng)付不同 的研發(fā)或生產(chǎn)要求
| √GaN厚度 | √光阻膠厚度 |
| √SiO2厚度 | √ 穿透率 |
