一用途：
Fabry-Parot標(biāo)準(zhǔn)具是一種應(yīng)用廣泛的高分辨干涉分光儀器?？捎糜诟叻直婀庾V學(xué)，和來研究波長(zhǎng)靠近的譜線，諸如元素的同位素光譜、光譜的精細(xì)結(jié)構(gòu)、光散射時(shí)微小的頻移，原子移動(dòng)引起的譜線多普勒位移，和譜線內(nèi)部的結(jié)構(gòu)形狀；也可用作高分辨光學(xué)濾波器、構(gòu)造精密波長(zhǎng)計(jì)；在激光系統(tǒng)中它經(jīng)常用于腔內(nèi)壓窄譜線或使激光系統(tǒng)單模運(yùn)行，分析激光中的光譜成分（縱模、橫模）當(dāng)然也少不了它。
二如何選用：
根據(jù)具體實(shí)驗(yàn)?zāi)繕?biāo)選用合適參數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)具是實(shí)驗(yàn)成功的前提。所附“浙江大學(xué)物理系近代物理實(shí)驗(yàn)教材（附件1）”中簡(jiǎn)述了FP標(biāo)準(zhǔn)具各個(gè)參數(shù)的意義。使用時(shí)應(yīng)選好以下參數(shù)：
- 精細(xì)度F。主要取決于鏡面反射率R(λ)，同時(shí)受鏡面被照射部分平整度和平行度的限制。還受限于探測(cè)器的空間分辨率。
- 峰值透過率TMax。被研究光源是弱光源時(shí)，應(yīng)重視此參數(shù)，以獲得探測(cè)時(shí)要的信噪比。它取決于反射膜的損耗和鏡面介質(zhì)的損耗，以及鏡面的反射率。
- 襯比因子C。當(dāng)被研究光源很弱時(shí)。要注意C以抑制背景信號(hào)。C主要取決于鏡面反射率R。
另外，還應(yīng)選擇有溫度穩(wěn)定性的振性能良好的標(biāo)準(zhǔn)具對(duì)順利完成實(shí)驗(yàn)有重要意義，在這方面，固體標(biāo)準(zhǔn)具，后者又空氣隙具壓電掃描標(biāo)準(zhǔn)具。
三、產(chǎn)品介紹：
本公司主要成員從1979年開始就致力于Fabry-Parot干涉儀（標(biāo)準(zhǔn)具）的研究。1985年研制成功氣壓掃描F-P標(biāo)準(zhǔn)具并出色地用于塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)，通過省級(jí)鑒定，拍攝了教學(xué)錄像片，在國(guó)內(nèi)眾多高校傳播。1986年獲教委二等獎(jiǎng)（見附件２）在北大、清華、復(fù)旦、浙大應(yīng)用受到好評(píng)（見附件3）后來與中科院上海硅酸鹽所合作研制了“雙重壓電控制高F-P平鏡平面度測(cè)量干涉儀”并于2000年通過省級(jí)鑒定（見附件4）測(cè)試λ/1000以上。了制作的標(biāo)準(zhǔn)具關(guān)鍵指標(biāo)“平面度”在λ/100以上，質(zhì)量可以與國(guó)外昂貴產(chǎn)品。固體FP標(biāo)準(zhǔn)具技術(shù)參數(shù)：
1.平面性誤差小于λ∕100,精細(xì)度≥30。
2.幾何厚度系列有：1、1.4、2、5、10mm(也可按用戶要求制作)。在不同波長(zhǎng)時(shí)，其介質(zhì)折射率為：
λ(nm) 365.5 404.7 435.8 546.1 587.6 656.3
n 1.474 1.470 1.467 1.460 1.458 1.456
其中厚度為1.40mm的尤其適合作為磁感應(yīng)強(qiáng)度Ｂ＝1.0～1.2T時(shí)塞曼效應(yīng)的觀測(cè)。
3.鏡面膜層為多層介質(zhì)膜，反射率約94％，高反波段寬度大于1000Å，中心波長(zhǎng)5461Å。（也可按用戶要求制作）
4．基片直徑：ф20，ф25。
5．外框尺寸：外徑ф32，厚16mm（片厚1.0,1.4,2.0mm）；19mm(片厚5mm);24mm(片厚10mm) 。
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