多功能原位納米紅外光譜儀

產(chǎn)品價(jià)格：: 電議

產(chǎn)品型號(hào)：: nanoIR

供應(yīng)商等級(jí)：: 免企業(yè)未認(rèn)證

經(jīng)營模式：: 工廠

企業(yè)名稱：: 科瑞利通科技開發(fā)有限公司

所屬地區(qū)：: 北京市

發(fā)布時(shí)間：: 2012/3/9 15:52:51

010-82561305

銷售部先生(聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)說明是在維庫儀器儀表網(wǎng)看到的，謝謝)

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科瑞利通科技開發(fā)有限公司

免企業(yè)未認(rèn)證證營業(yè)執(zhí)照未上傳

經(jīng)營模式：工廠

所在地：北京市

主營產(chǎn)品：納米壓痕儀、劃痕儀、電子束刻蝕系統(tǒng)

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儀器介紹：
NanoIR測(cè)試平臺(tái)將可調(diào)制紅外光源與AFM掃描模塊完美結(jié)合，同時(shí)實(shí)現(xiàn)高分辨率材料納米尺度上的形貌、紅外光譜、熱以及力學(xué)性能成像分析。該技術(shù)榮獲2010年度美國R&D100大獎(jiǎng)。

主要參數(shù)：

光譜范圍：1200-3600cm^-1
光譜分辨率：<16 cm^-1
成像尺寸：100μmX100μm
單幅光譜獲取時(shí)間：<1分鐘/每幅

主要特點(diǎn)：
獨(dú)有技術(shù)突破傳統(tǒng)紅外光譜衍射極限，實(shí)現(xiàn)納米尺度紅外光譜采集
可同時(shí)獲得納米尺度上的形貌、紅外光譜、熱以及力學(xué)性能成像分析