儀器簡介：
BRIMROSE高速AOTF近紅外薄膜分析儀具有極好的準確率，為了優(yōu)化生產(chǎn)過程，儀器可以放置在生產(chǎn)線內(nèi)，對于能夠準確分析監(jiān)測薄膜或者涂層是很重要的。儀器可以被用于在線規(guī)格確認，薄膜或紙張上的單層或多層涂層厚度，分析和評價涂層或紙張的化學成分，對殘留溶液的監(jiān)測，加工時間，等。

AOTF-近紅外薄膜分析儀完全不受外界光，振動，灰塵，污垢的影響，是值得信賴的儀器，在生產(chǎn)環(huán)境中無需維護費用。新穎的光學頭設計使得薄膜或者涂層的測量對于質(zhì)量控制是一種有效的節(jié)約費用方法。

BRIMROSE LUMINAR 系統(tǒng)緊密設計具有無接觸固態(tài)傳感器，按照所需的行業(yè)使用，提供快速全譜掃描。儀器可以被安裝在滑竿上，通過網(wǎng)絡掃描或者可以被用于統(tǒng)計的斑點測量。對于快速和自動的過程調(diào)整，BRIMROSE AOTF-NIR 可以和PLC或DCS連接。利用在線AOTF-NIR過程分析儀進行產(chǎn)品分析，為全世界許多客戶節(jié)省了大量時間和財力。



技術參數(shù)：
1、雙光束、預校準燈源總成，
2、InGaAs檢測器，
3、嵌入式計算機，調(diào)制解調(diào)器，以太網(wǎng)接口，
4、使用Brimrose宏語言的SNAP!™分析軟件，
5、16,000 波長點/秒，
6、微型集成電學模塊安裝在光學模塊上。
7、電源： 12VDC, 90 W; 90-230 VAC, 90 W.

主要特點：
非接觸，非破壞測量基層材料和涂層的化學和物理性質(zhì)