為限度地提高晶控片（晶振片）的使用壽命、穩(wěn)定而準(zhǔn)確的沉積速率控制，每個晶控片（晶振片）都經(jīng)過如下檢查：
1）。阻抗——阻抗的檢查有助于保證測量的穩(wěn)定性和晶控片（晶振片）的使用壽命。阻抗指標(biāo)體現(xiàn)了晶控片的電接觸性和電極粘連度。
2）。頻率——確保起始頻率在較小范圍內(nèi)，有助于確保您準(zhǔn)確的厚度測量。
3）。曲率——曲率的測試，是為了保證共振的穩(wěn)定性，差勁的曲率將降低晶控片（晶振片）測量過程的穩(wěn)定性。
4）。外觀檢測——每個晶體的電極均勻性、表面缺陷、以及其他的外觀缺陷都得到檢查，從而排除了較差的電極粘連性和可能的污染。
中國浙江嘉興晶控電子有限公司
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