大韓民國(guó)大田廣域市產(chǎn)業(yè)振興財(cái)團(tuán)南京代表處
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李述勇先生(聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)說(shuō)明是在維庫(kù)儀器儀表網(wǎng)看到的，謝謝)
大韓民國(guó)大田廣域市產(chǎn)業(yè)振興財(cái)團(tuán)南京代表處
免企業(yè)未認(rèn)證證營(yíng)業(yè)執(zhí)照未上傳
經(jīng)營(yíng)模式：工廠(chǎng)
所在地：江蘇
主營(yíng)產(chǎn)品：環(huán)境設(shè)備;探傷儀;紅參;洗發(fā)水;軟件;水處理設(shè)備;水質(zhì)分析儀;化妝品;工藝品;
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| 品牌 | K-MAC | 型號(hào) | ST2000-ST8000 |
| 產(chǎn)品用途 | 薄膜厚度測(cè)量 |
本產(chǎn)品適用于半導(dǎo)體領(lǐng)域內(nèi)，測(cè)量薄膜厚度的光學(xué)分析儀器。我公司的ST產(chǎn)品的測(cè)量時(shí)間非常短暫，測(cè)量方法是屬于非接觸非破壞方法，使用顯微鏡可以測(cè)量很小區(qū)域內(nèi)的再現(xiàn)性和準(zhǔn)確性，現(xiàn)在，我們公司的薄膜測(cè)厚儀是遠(yuǎn)遠(yuǎn)于使用其它方法的其它產(chǎn)品。
【】厚度測(cè)量領(lǐng)域內(nèi)的分解能力屬于世界初微小領(lǐng)域測(cè)量
【】可以專(zhuān)用于測(cè)量微小領(lǐng)域的厚度分布
【】可以測(cè)量Wafer上的多層薄膜厚度與光學(xué)常數(shù)-折射率與吸收率
【】可以實(shí)時(shí)的測(cè)量厚度變化量與具有角度顯示，打印，保存功能
【】可以快速的在1秒之內(nèi)接受data并且修復(fù)data
