型號(hào)

過充保護(hù)電壓

過充保護(hù)恢復(fù)電壓

過放保護(hù)電壓

過放保護(hù)恢復(fù)電壓

過電流

KHD-01

4.150~4.500V &plun;1mV

4.200~3.800V &plun;1mV

3.200~2.000V &plun;1mV

2.500~3.500V &plun;1mV

0~10.00A &plun;0.1A

靜態(tài)電流

內(nèi)阻

識(shí)別電阻

過充保護(hù)時(shí)間

過放保護(hù)時(shí)間

過電流保護(hù)時(shí)間

0.0~100.0uA &plun;0.1uA

0~200 mΩ &plun;1mΩ

0.1~999.9KΩ &plun;0.1KΩ (10KΩ以內(nèi))

0~5000mS &plun;1mS (1mS=0.001秒)

0~1000mS &plun;1mS

0~100mS &plun;1mS

該測(cè)試儀采用的硬件電路，的軟件算法，實(shí)現(xiàn)快速測(cè)試和結(jié)果二者兼顧，測(cè)試項(xiàng)目多項(xiàng)（充電、充電恢復(fù)、放電、放電恢復(fù)、過電流、短路保護(hù)時(shí)間、自耗、內(nèi)阻、識(shí)別電阻、熱敏電阻、碼片、充電、放電、過電流）。測(cè)試一塊保護(hù)電路板的性能參數(shù)需要2秒鐘，在測(cè)試模式下，測(cè)試過充電壓和過放保護(hù)電壓，到1mV，可以滿足生產(chǎn)快速測(cè)試和樣品的測(cè)試需要.