• 綜合誤差：≤(%)或≥(%)
• 測(cè)量：(%)
• 分辨力：(μ)
• 外形尺寸：**(mm)
• 信號(hào)輸出：
• 顯示：
• 規(guī)格：
• 產(chǎn)品用途：
• 電力裝置：
• 重量：(kg)
• 壓力范圍：——(mPa)
• 測(cè)溫：——(%)
• 度：——(%)
• 基本誤差：——(%)
• 測(cè)量范圍：——(mm)
• 采樣周期：——(min)
• 電機(jī)功率：(KW)
• 功耗：≤(W)或≥(W)

可見光檢測(cè)照明裝置(圖像處理用的光源裝置)廣泛應(yīng)于用：

文字識(shí)別 印刷基板檢查 晶片檢查 芯片檢查 BGA球檢查 LCD濾色鏡觀察 印刷錯(cuò)位檢查 芯片引線檢查 繪畫照明等領(lǐng)域.

有三種照明方式:

1.同軸落射照明(明視場(chǎng))? 鏡面類產(chǎn)品、LCD屏、硅晶片、濾色片、硬盤、各類芯片等?? 2 .透過照明（背光） 貼裝元件、PCB等基板上的標(biāo)識(shí)、物品破痕、凸出物件檢查、焊合痕跡、各類非鏡面物件等??

3.?? 斜光照明(暗視場(chǎng))? 晶片引線、通孔基板、LCD液晶基板電極、各類透光晶體等物品

介紹:

本發(fā)明提供了一種通過平行光線來識(shí)別圖像的面光源裝置。該裝置是在作為目標(biāo)物的試料的表面對(duì)電路圖像等對(duì)象圖像進(jìn)行投影,或?qū)D像輸入檢查裝置時(shí)使用的面光源裝置。該裝置以能覆蓋全體電路圖像模型等對(duì)象圖像的具有電發(fā)光功能的面發(fā)光部作為面光源,通過面光源發(fā)出的平行光線識(shí)別所需的圖像模型。本發(fā)明依靠平行光線來識(shí)別圖像,避免了以往由于點(diǎn)光源投影及識(shí)別圖像時(shí)丟失像素的現(xiàn)象,實(shí)現(xiàn)清晰明了地識(shí)別圖像,獲得高的圖像,而且成本低廉,經(jīng)久耐用。

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