• 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：≤(nm)或≥(nm)
• 分辨率：(m/s)
• 靈敏度：(%)
• 量程范圍：——(A)
• 測(cè)量范圍：——(mg/L)
• 測(cè)量：——(%)
• 介質(zhì)溫度：——(℃)
• 度：——(%)
• 尺寸：**(mm)
• 數(shù)顯方式：
• 維護(hù)周期：
• 試劑更換周期：——(周)
• 電源電壓：(V)
• 讀數(shù)顯示：
• 重量：(kg)
• 功率：(kw)
• 頻率：——(%)
• 輸入阻抗：**(Ω)
• 用途：

布魯克 DektakXT 臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）是一項(xiàng)創(chuàng)新性的設(shè)計(jì)，可以提供無(wú)與倫比的重現(xiàn)性，重現(xiàn)性低于5?。臺(tái)階儀這項(xiàng)性能的提高達(dá)到了過(guò)去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新的頂峰，更加鞏固了其行業(yè)地位。通過(guò)整合其行業(yè)產(chǎn)品，DektakXT實(shí)現(xiàn)了性能。操作簡(jiǎn)易，從研發(fā)到質(zhì)量控制都有更好的過(guò)程控制。整合了技術(shù)突破到第十代DektakXT臺(tái)階儀，能夠在微電子，半導(dǎo)體，超高亮度發(fā)光二極管（LED）、醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)等行業(yè)實(shí)現(xiàn)納米級(jí)表面形貌測(cè)量。
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DektakXT 技術(shù)參數(shù)：
—臺(tái)階高度重復(fù)性5?
—Single-arch設(shè)計(jì)大大提高了掃描穩(wěn)定性
—前置敏化器件，降低了噪音對(duì)測(cè)量的干擾
—新的硬件配置使數(shù)據(jù)采集能力提高了40%
—64-bit，這一Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件，使數(shù)據(jù)分析速度提高了十倍。
功能卓越，操作簡(jiǎn)易
—直觀的Vision64用戶界面操作流程簡(jiǎn)便易行
—針尖自動(dòng)校準(zhǔn)系統(tǒng)讓用戶更換針尖不再是難事
臺(tái)階儀（表面輪廓儀）領(lǐng)域無(wú)可撼動(dòng)的地位
—布魯克的臺(tái)階儀，體積輕巧，功能強(qiáng)大。
—單傳感器設(shè)計(jì)提供了單一平面上低作用力和寬掃描范圍
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