X-RAY膜厚儀

規(guī)格簡介

l 無標(biāo)準(zhǔn)效準(zhǔn)：Oxford支持使用標(biāo)準(zhǔn)以解決順應(yīng)性和系統(tǒng)優(yōu)化問題

l 包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體

l 5層/15種元素/普通元素效正

l 同時為多達(dá)15種元素進(jìn)行成份分析

l 貴重金屬分析和金純度檢查

l 材料與合金元素分析

l 材料鑒定與區(qū)別

l 吸收測量方式

l 液體分析：分析液體中的金屬，如電鍍液

l 系統(tǒng)自動調(diào)整和效正：效正X線導(dǎo)管、探測器和電子設(shè)備的變化

l 光譜計數(shù)速率峰值位移效正

l 重疊熒光峰值數(shù)字峰值反卷

l 定性光譜分析元素ID。同時輕松自如地查看和比較多達(dá)四個光譜

l Oxford統(tǒng)計數(shù)字和產(chǎn)生器LE（輕型）

Oxford SmartLink 補(bǔ)充軟件系列

l Oxford統(tǒng)計數(shù)字和產(chǎn)生器

l 配備數(shù)據(jù)庫的Oxford統(tǒng)計數(shù)字和產(chǎn)生器

l Oxford即時分析

l Oxford材料區(qū)別

l Oxford Percent P

有了Oxford SmartLink補(bǔ)充軟件系列，您就能夠?qū)⒃紨?shù)據(jù)轉(zhuǎn)變成強(qiáng)有力的資訊。所有的Oxford統(tǒng)計數(shù)字和產(chǎn)生器都讓您根據(jù)自己的需要選擇定制。統(tǒng)計數(shù)字軟件提供：平均值，S.D.，小值，值，范圍，偏差百分比，控制上限，控制下限，Cpk，組織圖，X-bar/R。所有的性質(zhì)都可以用多媒體形式做圖表演示。用戶可以輸入測量元件的數(shù)字圖像或CAD文件，并把它們直接放在品質(zhì)上。

l 配備數(shù)據(jù)庫的Oxford統(tǒng)計數(shù)字和產(chǎn)生器：與上面相同，但包含一個完整的數(shù)據(jù)庫。數(shù)據(jù)庫總共包含十個可追蹤域，其中八個為用戶定義域。元件號和日期/時間域為標(biāo)準(zhǔn)域。通過用戶選擇索引對數(shù)據(jù)進(jìn)行存檔、索引和分類處理。

l Oxford即時分析、材料區(qū)別和Percent P等選項，能夠為您的具體應(yīng)用優(yōu)化CMI900系列儀器的功能。這些選項可能包含附加軟件、定制功能和附加硬件，以提高系統(tǒng)性能。

激勵

l 下視X線。X線射束90度采樣

l 風(fēng)冷微聚焦X導(dǎo)管，提供鎢、鉬和其它陽極。

電力：瓦特，4-50kv可編程，0-1.5mA

l 準(zhǔn)直管：多個（多6個），可編程，圓形，矩形（我們將幫助您選擇適合于您應(yīng)用的準(zhǔn)直管）

l 主要過濾器：提供各種厚度及材料

X線探測器和信號處理

l X線探測器：密封氙氣正比計數(shù)器；提供其它填充氣體

l 探測器過濾器：多3個，5個位置，可編程-馬達(dá)驅(qū)動；提供釩、鐵、錫、和其他元素

l 高速探測器信號處理電子設(shè)備，具有峰值位移校正功能

樣品處理

l 樣品室：密封（950系列）或開縫（900系列）

l 在X、Y、Z軸上可編程馬達(dá)驅(qū)動控制

l 高清晰度、實時、彩色樣品示圖，15〞（38.10cm）（標(biāo)準(zhǔn)）或17〞（43.18cm）（選項）

l 彩色樣品圖像捕獲和打印

l 激光樣品聚焦

l 電腦產(chǎn)生十字線，準(zhǔn)直管尺寸指示器，用于樣品準(zhǔn)定位

l 可變聚焦距離控制，以適應(yīng)變化的樣品外型

l 樣品變大：選擇30、50、或100放大。提供固點(diǎn)聚焦距離或可變聚焦距離選項

測量

l 鼠標(biāo)器啟動“點(diǎn)擊”測量

l 自動測量重復(fù)功能

l 安全：多用戶多級密碼保護(hù)