詢價
- 企業(yè)類型：貿(mào)易商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：廈門
- 光學(xué)設(shè)計：非對稱C-T光路
- 積分時間：10μs-1.3hours
產(chǎn)品簡介：
ATP7330是奧譜天成集20年光譜儀研制經(jīng)驗，經(jīng)過5年的研發(fā)，推出的超高分辨率光譜儀，ATP7330超高分辨率光柵光譜儀都采用了反射型光柵，方便快速更換， 光柵塔輪通過軟件控制，可精準(zhǔn)定位光柵與測試波長。 ATP7330超高分辨率光柵光譜儀系統(tǒng)利用了仿真優(yōu)化的光學(xué)系統(tǒng)來確保高分辨率，該設(shè)計同時通過糾正像差來提供多光纖同時成像的可能。ATP7330超高分辨率光柵光譜儀系列有多種輸 入、輸出的選擇，為科研者提供了無盡的可能性，擴(kuò)展性與多樣性。既可以使用單點(diǎn)探測器，也可以采用各類陣列相機(jī)。 ATP7330有四款不同焦長的型號：210，350，510 和810mm。與棱鏡型光譜或者透射型光柵不同的是，每一個ATP7330超高分辨率光柵光譜儀都可以覆蓋從紫外到 近紅外、短波紅外波段的應(yīng)用，只需選擇合適的光柵，就能擁有在波長與分辨率的選擇上擁有更多自由度。
關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)
光學(xué)設(shè)計：非對稱冷卻 C-T 光路，環(huán)形鏡像差校正；內(nèi)置三光柵塔式輪，支持 150–3600 g/mm 多種光柵，軟件精準(zhǔn)定位（最小轉(zhuǎn)角 0.36 μrad），可自動校準(zhǔn)；輸入支持 SMA905 光纖與自由空間兩種方式；可選 Si CCD/InGaAs 雙探測器配置。
探測器與信號：TE 制冷 CCD/InGaAs 陣列，制冷溫度低至 - 40℃；ADC 為 18 bit（輸出 16 bit）；動態(tài)范圍 SCMOS/CCD >1400，SWIR InGaAs >10000；積分時間 10 μs–256 s；接口 USB2.0、UART，15 針擴(kuò)展口 + SMA 外觸發(fā)。
電氣與物理：DC 12 V（<4 A）供電；尺寸 600×400×155 mm，重量 15 kg；工作溫度 - 20℃至 45℃，濕度 < 90%（無凝露）。
核心優(yōu)勢
寬波段 + 超高分辨率：覆蓋 180 nm（深紫外）到 2500 nm（短波紅外），可按需求定制波段；長焦距型號（FL760）配合窄縫與高刻線光柵，適合拉曼、熒光、激光線寬測量等對分辨率要求苛刻的場景。
模塊化 + 可擴(kuò)展：三光柵塔輪可快速更換，支持多光纖同時成像；探測器可按需選配（可見光 CCD / 近紅外 InGaAs），并提供濾光輪、光源、校準(zhǔn)系統(tǒng)等全套配件。
軟件與自動化：全電動控制（光柵切換、波長掃描），支持自動波長與強(qiáng)度校準(zhǔn)；配套光譜采集與分析軟件，兼容 LabVIEW 等二次開發(fā)平臺。
典型應(yīng)用
拉曼光譜、熒光 / 光致發(fā)光（PL）、吸收 / 透射 / 反射、LIBS（激光誘導(dǎo)擊穿光譜）
半導(dǎo)體材料表征、生物醫(yī)學(xué)光譜、環(huán)境監(jiān)測、精密光學(xué)器件測試、激光波長校準(zhǔn)
