ATP5030/4超高分辨率光譜儀產(chǎn)品概述

ATP5030/4是奧譜天成新開發(fā)的一款制冷型超高分辨率光纖光譜儀，它采用制冷的2048或4096像素線陣探測(cè)器，達(dá)到了超高分辨率，極限分辨率可達(dá)0.05nm，適用于各種高分辨率應(yīng)用場(chǎng)合，同時(shí)具備高可靠性、超高速、低成本、高性價(jià)比等特性，可適應(yīng)在線測(cè)試等各種環(huán)境用途的微型光譜儀。

      ATP5030/4超高分辨率光譜儀特征

探測(cè)器制冷溫度：-5 ℃。

內(nèi)置氙燈同步觸發(fā)控制電路。

光譜范圍: 200-1100 nm。

光譜分辨率: 0.05-2nm。

光路結(jié)構(gòu): 非交叉C-T。

檢測(cè)器： 2048或4096像素。

積分時(shí)間: 0.1ms-256s。

供電電源: 直流5V USB供電。

ADC位深：16位；。

ADC采樣率：2MHz。。

數(shù)據(jù)輸出接口：USB Type-C。

30針擴(kuò)展接口。

       ATP5030/4超高分辨率光譜儀核心技術(shù)優(yōu)勢(shì)

探測(cè)器制冷溫度達(dá) - 5℃，大幅降低暗電流與熱噪聲，提升信噪比（SNR>10,000:1）。

制冷系統(tǒng)采用閉環(huán)控制，溫度穩(wěn)定性高，確保長(zhǎng)期測(cè)量一致性。

制冷功能可按需開啟 / 關(guān)閉，適配不同應(yīng)用場(chǎng)景與功耗需求。

極限分辨率 0.05nm（需搭配窄狹縫 + 高刻線光柵組合），常規(guī)配置可達(dá) 0.1nm/0.08nm。

M 型光路設(shè)計(jì)有效抑制雜散光干擾，520nm 處光斑尺寸僅 11μm，顯著優(yōu)于傳統(tǒng)交叉 C-T 光路（98.9μm），提升測(cè)量精度

全波段雜散光控制在0.1% 以下，確保微弱信號(hào)的準(zhǔn)確捕捉。

光譜測(cè)量范圍覆蓋200-1100nm（UV-Vis 波段），單臺(tái)儀器可通過選配不同波段光柵實(shí)現(xiàn)特定波長(zhǎng)范圍的精準(zhǔn)測(cè)量。

ATP5030 標(biāo)配 2048 像素線性 CMOS 檢測(cè)器，ATP5034 標(biāo)配 4096 像素線性 CMOS 檢測(cè)器，適配不同分辨率與靈敏度需求

多種狹縫（5μm/10μm/25μm/50μm）與光柵（1200/1800/2400/3600 線 /mm）組合，滿足個(gè)性化測(cè)量需求。

積分時(shí)間范圍0.1ms-60s，適配從快速動(dòng)態(tài)過程到微弱信號(hào)檢測(cè)的多樣化場(chǎng)景。

內(nèi)置氙燈同步觸發(fā)控制電路，支持外部觸發(fā)與同步測(cè)量，提升實(shí)驗(yàn)靈活性。

工業(yè)級(jí)設(shè)計(jì)，適應(yīng) - 10℃~45℃寬溫度范圍工作，具備優(yōu)異的環(huán)境適應(yīng)性。

單電源供電（DC 5V±10% 或 USB 直接供電），簡(jiǎn)化系統(tǒng)集成。

支持 USB 2.0 與 RS232/UART 雙接口數(shù)據(jù)輸出，兼容多種數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。

配套專業(yè)光譜分析軟件，支持實(shí)時(shí)顯示、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、光譜處理與導(dǎo)出，操作便捷。

      ATP5030/4超高分辨率光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域

LIBS、等離子體發(fā)光檢測(cè)。

拉曼光譜檢測(cè)。

波長(zhǎng)監(jiān)測(cè)，激光、LED等發(fā)光體。

水質(zhì)分析儀。

紫外煙氣分析儀。

LED分選機(jī)、顏色檢測(cè)。

微量、快速分光光度計(jì)。

光譜分析、輻射分光分析、分光光度分析。

反射、透射光譜檢測(cè)。