- 測試平臺(tái):精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測器和X光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
- 探測器:SDD探測器
- 工作原理:利用x射線對(duì)金屬表面進(jìn)行激發(fā),檢測熒光強(qiáng)度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準(zhǔn)直器大?。?/strong>φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器
- 溫度要求:15℃至30℃。
- 電源:交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
- 外觀尺寸:576(W)×495(D)×545(H) mm
x熒光射線測厚儀簡述
Thick800Ax射線測厚儀是門為涂層厚度測量精心設(shè)計(jì)的新型儀器。主要用于金屬涂層厚度測量、電鍍液和涂層含量測量;檢測金屬、鉑、銀等貴金屬及各種裝飾品的含量。

技術(shù)指標(biāo)
x熒光射線測厚儀分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U)
檢驗(yàn)元素:多24個(gè)元素,高達(dá)五層涂層
檢出限制:可達(dá)2ppm,薄可檢測0.005μm
分析內(nèi)容:一般為2ppm到99.9%
涂層厚度:一般為50μ重復(fù)性在m以內(nèi)(每種材料不同):可達(dá)0.1%
穩(wěn)定性:可達(dá)0.1%
SDD探測器:分辨率低至135
x熒光射線測厚儀采用微孔矯直技術(shù),小孔徑為0.1mm,小光斑達(dá)0.1mm
樣品觀察:配置場景及當(dāng)?shù)貎蓚€(gè)工業(yè)高清攝像頭
準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф四種準(zhǔn)直器組合0.3mm
儀器尺寸:690(W)x575(D)x660(H)mm
樣品室大小:520(W)x395(D)x150(H)mm
樣品臺(tái)尺寸:393(W)x258(D)mm
X/Y/Z平臺(tái)移速:額定速度200mm/s高速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺(tái)重復(fù)定位精度:低于0.1um
操作環(huán)境濕度:≤90%
操作環(huán)境溫度15℃~30℃
性能優(yōu)勢(shì)
x熒光射線測厚儀
樣品觀測系統(tǒng)
的圖像識(shí)別
輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢驗(yàn)
四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動(dòng)選擇
雙重保護(hù)措施,實(shí)現(xiàn)無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,減少檢出限制,提高檢測精度
自動(dòng)智能控制方法,鍵式操作!
啟動(dòng)自動(dòng)退出自檢,復(fù)位自動(dòng)退出自檢
打開蓋子自動(dòng)退出樣品臺(tái),提升Z軸測試平臺(tái),方便放樣
關(guān)蓋推動(dòng)樣品臺(tái),減少Z軸測試平臺(tái),自動(dòng)執(zhí)行對(duì)焦
直接點(diǎn)擊場景或局部場景圖像選擇測試點(diǎn)
點(diǎn)擊軟件界面檢測按鈕,自動(dòng)執(zhí)行檢測并顯示測試結(jié)果









詢價(jià)














