詢價(jià)
- 測試平臺(tái)：精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
- 探測器：SDD探測器
- 工作原理：利用x射線對金屬表面進(jìn)行激發(fā)，檢測熒光強(qiáng)度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準(zhǔn)直器大小：φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
銅錫合金鍍層測厚儀THICK800A具有自動(dòng)對焦系統(tǒng)：通用數(shù)字激光傳感器、CMOS激光傳感器實(shí)現(xiàn)樣品高度的自動(dòng)對焦。
的詳細(xì)信息
銅錫合金鍍層測厚儀能夠滿足：黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測；金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定；貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。
主要技術(shù)指標(biāo)：
1、儀器尺寸：
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，
特殊測試時(shí)，可開蓋，對樣品長度無限制
檢測開槽口時(shí)，厚度10mm以上，寬度和深度沒有限制。
樣品臺(tái)尺寸：230(W)×210(D)mm
移動(dòng)范圍：50(X)mm， 50(Y)mm
銅錫合金鍍層測厚儀Z軸升降平臺(tái)升降范圍：0-140mm
SDD半導(dǎo)體探測器：
探測器輸入電壓：±12V，+5V
探頭窗口面積：25mm 2
探頭窗口厚度：0.5mil
分辨率：140±5eV
探頭內(nèi)制冷溫度：<-40℃
X射線光管：
管壓：5-50kV
管流：0-1mA
靶材：W靶
銅錫合金鍍層測厚儀窗口：鈹窗
制冷方式：風(fēng)冷
工作溫度：≤75℃
高壓發(fā)生器：
輸入電壓：24V
MCA多道分析器：
輸入電壓：±12V，+5V
采樣頻率：100 KHZ
脈沖幅度：0-7.6V
A/D位數(shù)：12位
分析道數(shù)：2048道
準(zhǔn)直器系統(tǒng)：
準(zhǔn)直器：?0.1 mm(可根據(jù)要求選配)
濾光片：Mo(可根據(jù)要求選配)
高清晰攝像頭：傳感器類型：CCD（彩色）
接口：USB2.0
快門類型：面陣
光學(xué)尺寸：1/4英寸
有效像素：659(H)×494（V）
有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)
像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：
感應(yīng)度：0.58V
顏色排列：RGB
幀率：30fps
快門速度：1/1538-1/30（秒）
