詢(xún)價(jià)
- 企業(yè)類(lèi)型：貿(mào)易商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：廈門(mén)
- 光譜范圍：0.2~12.0μm
- 最佳分辨率：13nm
- 最快成譜時(shí)間：15s
- 探測(cè)器制冷：Yes，-40℃
- 最大波段數(shù)：25000
- 最大光譜范圍：0.2~12.0μm
ATP7820系列是奧譜天成推出的寬波段光譜測(cè)量系統(tǒng)，基于旋轉(zhuǎn)掃描光柵技術(shù)設(shè)計(jì)，覆蓋紫外至中遠(yuǎn)紅外波段。該產(chǎn)品適用于需要寬光譜覆蓋與良好分辨率的多類(lèi)分析場(chǎng)景，通過(guò)可配置的光學(xué)系統(tǒng)與制冷探測(cè)器設(shè)計(jì)，為科研與工業(yè)應(yīng)用提供穩(wěn)定可靠的光譜測(cè)量方案。
產(chǎn)品概覽
該系列光纖光譜儀采用旋轉(zhuǎn)凹面光柵掃描結(jié)構(gòu)，通過(guò)計(jì)算機(jī)控制實(shí)現(xiàn)自動(dòng)波長(zhǎng)掃描，系統(tǒng)具備寬波段覆蓋能力，標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)覆蓋范圍可達(dá)0.2–12.0μm。產(chǎn)品提供多種波段配置選擇，并支持定制化需求，滿(mǎn)足用戶(hù)在不同應(yīng)用場(chǎng)景中對(duì)光譜范圍與分辨率的綜合要求。
光學(xué)與系統(tǒng)設(shè)計(jì)
ATP7820光纖光譜儀采用優(yōu)化的光路設(shè)計(jì)，配合可調(diào)節(jié)入射狹縫，可在光通量與光譜分辨率之間靈活調(diào)整。探測(cè)器采用TEC深度制冷技術(shù)，有效降低熱噪聲影響，無(wú)需液氮輔助冷卻。系統(tǒng)內(nèi)置斬波器及可選濾光片組件，支持SMA905光纖接口與自由空間光輸入，適配多種光學(xué)耦合方式。
型號(hào)配置與性能參數(shù)
系列提供六種標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)，覆蓋不同光譜范圍：
ATP7820-25：0.2–2.5μm
ATP7820-50：0.2–5.0μm
ATP7820-60：0.2–6.0μm
ATP7820-90：0.2–9.0μm
ATP7820-120：0.2–12.0μm
各型號(hào)均采用24位ADC數(shù)據(jù)采集，支持USB 2.0與UART數(shù)據(jù)輸出接口。系統(tǒng)供電為+12V直流電源，結(jié)構(gòu)緊湊，便于系統(tǒng)集成與現(xiàn)場(chǎng)部署。
應(yīng)用領(lǐng)域
ATP7820光纖光譜儀系列適用于以下典型應(yīng)用場(chǎng)景：
材料光學(xué)性能分析：用于固體、液體及薄膜材料的吸收、反射與透射光譜測(cè)量
高溫過(guò)程光譜監(jiān)測(cè)：適用于燃燒分析、發(fā)動(dòng)機(jī)尾焰等高溫輻射體的光譜特性研究
地物光譜采集：支持地面目標(biāo)光譜測(cè)量，為環(huán)境監(jiān)測(cè)、農(nóng)業(yè)遙感及資源調(diào)查提供數(shù)據(jù)支持
該光纖光譜儀結(jié)合寬波段覆蓋、可配置光學(xué)系統(tǒng)與集成化控制軟件，為用戶(hù)提供了適用于多種光譜分析場(chǎng)景的可靠測(cè)量工具。
