詢價(jià)
- 類型：維修測(cè)試儀
- 是否封裝：紙箱
- 是否全新：全新
- 是否安全：安全
- 是否質(zhì)保：質(zhì)保
產(chǎn)品特點(diǎn)：
◆好的測(cè)試技術(shù)，好的驅(qū)動(dòng)能力，故障原因的電路板皆可修好
◆友好簡(jiǎn)單的中文操作界面，不經(jīng)訓(xùn)練，均可成為維修
◆無(wú)需電路原理圖，不必知道器件型號(hào)，對(duì)電路板皆可快速維修
◆40/40×2路數(shù)字電路測(cè)試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規(guī)模集成電路數(shù)據(jù)庫(kù)；
◆40/40×2（ASA）V/I，曲線分析測(cè)試功能
◆電路板測(cè)試存儲(chǔ)功能，被測(cè)板可與之比較
◆與進(jìn)口同類儀器比較，優(yōu)，操作方便
◆通用于各類雙列直插式封裝芯片，可為大中規(guī)模集成電路提供分析測(cè)試。
◆本功能亦可通過(guò)學(xué)習(xí)記錄，比較分析來(lái)測(cè)試。
技術(shù)規(guī)格：
并口
Windows界面可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系統(tǒng)下工作
雙CPU工作，速度快，效率。
功能測(cè)試40×2通道
VI曲線測(cè)試40×2通道
雙測(cè)試夾VI曲線測(cè)試
網(wǎng)絡(luò)提取 程控加電
EPROM/RAM在線讀取
模擬器件 VI曲線測(cè)試
總線隔信號(hào)
中文維修筆記
◆[ICT]系列檢測(cè)儀檢測(cè)加準(zhǔn)
■ 功能測(cè)試軟件設(shè)上拉電阻——方便集電極開路門的測(cè)試
■ 功能測(cè)試外供電源穩(wěn)定——各種大、中、小型被測(cè)電路板皆可測(cè)試
■ 功能測(cè)試具有三態(tài)識(shí)別能力——可測(cè)三態(tài)器件和IC負(fù)載能力下降故障
■ V/I測(cè)試正負(fù)掃描電壓——同時(shí)檢查正/反向V/I曲線
■ V/I測(cè)試六個(gè)掃描頻率——保證V/I曲線測(cè)試穩(wěn)定
■ V/I測(cè)試三種測(cè)試電壓幅度——保各類器件的V/I測(cè)試
◆集成電路在線功能測(cè)試
本功能采用后驅(qū)動(dòng)隔技術(shù)，可在線判定IC邏輯功能是否正，可測(cè)74系列、
4000/45000邏輯IC、75系列接口IC及各種存儲(chǔ)器等千余種集成電路。 1、快速測(cè)試：直接
顯示測(cè)試結(jié)果，迅速定可疑IC 2、分析測(cè)試：顯示全部測(cè)試過(guò)程，測(cè)試激勵(lì)。預(yù)期和實(shí)
際響應(yīng)，幫助分析故障原因 3、器件識(shí)別：查找無(wú)標(biāo)記型號(hào)IC或同功能不同型號(hào)的IC。
◆集成電路在線狀態(tài)測(cè)試
通過(guò)好壞板上相應(yīng)IC的狀態(tài)進(jìn)行比較，找出有故障的IC。1、狀態(tài)學(xué)習(xí)：在線學(xué)習(xí)無(wú)故
障IC的引腳關(guān)系，互連狀態(tài)和測(cè)試的激勵(lì)與響應(yīng)，并存入數(shù)據(jù)庫(kù)中 2、狀態(tài)比較：同故障
板上相應(yīng)IC在線進(jìn)行狀態(tài)比較，根據(jù)兩者差異判定IC好壞 3、狀態(tài)顯示：顯示存入電腦庫(kù)
中的各IC的狀態(tài)資料。維修測(cè)試儀維修測(cè)試儀維修測(cè)試儀維修測(cè)試儀
