詢價
- 移動平臺：精密的三維移動平臺
- 樣品腔尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
- 分析范圍：同時可以分析30種以上元素，五層鍍層
- 檢出限：可達2ppm，最薄可測試0.005μm
- 鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
- 同時檢測元素：最多24個元素，多達五層鍍層
- 準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 Ф0.3mm四種準直器組合
鍍層測厚儀EDX600是天瑞儀器面向鍍層無損檢測的一款X射線熒光光譜儀，可廣泛應用于各種電鍍、化學鍍等行業(yè)。該產(chǎn)品使用進口定制Si-PIN探測器，內置四核CPU工控電腦，運行Smart FP算法。無需標樣，可同時檢測鍍層厚度和成分，檢測速度快，測試穩(wěn)定性好、準確性高。
產(chǎn)品展示
產(chǎn)品特點
元素檢測范圍：鋁(3)～鈾(No.92)
可支持最多四層檢測
可同時支持鍍層厚度和成分檢測
檢測精度：0.001um(厚度）
±0.02%(成分)
定制TCP/IP協(xié)議API接口，支持外部主機對設備的控制、狀態(tài)監(jiān)控及數(shù)據(jù)采集
支持多點連續(xù)測試，測試效率高
三準直器自動切換
XY平面微動平臺，輕松多點測試小樣品
鉛玻璃窗口，方便觀察樣品
產(chǎn)品規(guī)格
輸入電壓：交流100～240V，50Hz
產(chǎn)品包裝尺寸：615mmx555mmx480mm
產(chǎn)品尺寸：500mmx400mmx368mm
樣品腔尺寸：380mmx320mmx155mm
額定功率：<150W
毛重：59KG
凈重：46KG
噪音：50dB
使用環(huán)境：
溫度：15℃～31℃
濕度：<70%（不結露）
核心部件
探測器：AMPTEK定制版SDD探測器
內置工控電腦：Intel I3四核+Windows11
高壓電源：50KV/1mA數(shù)字高壓電源
X射線管：50KV/1mA
窗口材料：鈹窗
靶材：鎢
焦點：? 0.5mm
準直器：?0.5mm/ ?1.0mm/ ?2.0mm
