- 移動平臺:精密的三維移動平臺
- 樣品腔尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
- 分析范圍:同時可以分析30種以上元素,五層鍍層
- 檢出限:可達2ppm,最薄可測試0.005μm
- 鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)重復性:可達0.1%
- 同時檢測元素:最多24個元素,多達五層鍍層
- 準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 Ф0.3mm四種準直器組合
鍍層測厚儀EDX600是天瑞儀器面向鍍層無損檢測的一款X射線熒光光譜儀,可廣泛應用于各種電鍍、化學鍍等行業(yè)。該產(chǎn)品使用進口定制Si-PIN探測器,內置四核CPU工控電腦,運行Smart FP算法。無需標樣,可同時檢測鍍層厚度和成分,檢測速度快,測試穩(wěn)定性好、準確性高。
產(chǎn)品展示

產(chǎn)品特點
元素檢測范圍:鋁(3)~鈾(No.92)
可支持最多四層檢測
可同時支持鍍層厚度和成分檢測
檢測精度:0.001um(厚度)
±0.02%(成分)
定制TCP/IP協(xié)議API接口,支持外部主機對設備的控制、狀態(tài)監(jiān)控及數(shù)據(jù)采集
支持多點連續(xù)測試,測試效率高
三準直器自動切換
XY平面微動平臺,輕松多點測試小樣品
鉛玻璃窗口,方便觀察樣品
產(chǎn)品規(guī)格
輸入電壓:交流100~240V,50Hz
產(chǎn)品包裝尺寸:615mmx555mmx480mm
產(chǎn)品尺寸:500mmx400mmx368mm
樣品腔尺寸:380mmx320mmx155mm
額定功率:<150W
毛重:59KG
凈重:46KG
噪音:50dB
使用環(huán)境:
溫度:15℃~31℃
濕度:<70%(不結露)
核心部件
探測器:AMPTEK定制版SDD探測器
內置工控電腦:Intel I3四核+Windows11
高壓電源:50KV/1mA數(shù)字高壓電源
X射線管:50KV/1mA
窗口材料:鈹窗
靶材:鎢
焦點:? 0.5mm
準直器:?0.5mm/ ?1.0mm/ ?2.0mm


詢價






