- 移動(dòng)平臺(tái):精密的三維移動(dòng)平臺(tái)
- 樣品腔尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
- 分析范圍:同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層
- 檢出限:可達(dá)2ppm,最薄可測(cè)試0.005μm
- 鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)重復(fù)性:可達(dá)0.1%
- 同時(shí)檢測(cè)元素:最多24個(gè)元素,多達(dá)五層鍍層
- 準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
x熒光膜厚測(cè)量儀采用上照式硅漂移SDD探測(cè)器配置,既滿足各種金屬膜厚測(cè)量,也適用各種形狀規(guī)則的樣品。江蘇天瑞儀器股份有限公司生產(chǎn)x熒光無損膜厚測(cè)量儀,解決電鍍厚度測(cè)試。黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。

主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)。天瑞儀器是金屬鍍層測(cè)厚儀三大品牌之一,另外兩個(gè)品牌分部是費(fèi)希爾和牛津。天瑞的thick800a是性價(jià)比的金屬測(cè)厚儀,能夠φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求,采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度,鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn),技術(shù)指標(biāo)
樣品測(cè)試譜圖,高清,譜線明顯。:

廠家介紹
X熒光測(cè)厚儀生產(chǎn)生產(chǎn)廠家——江蘇天瑞儀器股份有限公司,新款Thick 8000X熒光測(cè)厚儀是專門針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型高端鍍層膜厚測(cè)試儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。金屬鍍層分析儀俗稱X射線熒光測(cè)厚儀、鍍層測(cè)厚儀、膜厚儀、XRF鍍層測(cè)厚儀、膜厚測(cè)試儀、金鎳厚測(cè)試儀、電鍍膜厚儀等,主要用于精密測(cè)量金屬電鍍層的厚度。功能:精密測(cè)量金屬電鍍層的厚度;應(yīng)用范圍:測(cè)量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成。
測(cè)量范圍從22(Ti)到92(U);5 層 (4 鍍層 + 基材) / 15 元素 / 共存元素校正;元素光譜定性分析;測(cè)試方法全面符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987

江蘇天瑞儀器股份有限公司鍍層測(cè)厚儀展廳



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