詢價
- 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。
- 探測器：Si-Pin探測器
- 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發(fā)，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準直器大小：φ0.1mm的小孔準直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
鋁鍍銅測厚儀介紹
天瑞公司有完善的質(zhì)量管理體系，從進口零部件的檢測開始，到儀器的組裝，數(shù)據(jù)的標定及考核，均嚴格把關(guān)，能夠很好的控制產(chǎn)品的質(zhì)量。公司嚴格按ISO9001質(zhì)量體系的要求，進行產(chǎn)品質(zhì)量的管理，每道工序進行嚴格的檢驗，絕不允許不合格的流到下到工序；不合格的產(chǎn)品不出廠，堅決做到“三不”和“三不放過”，確保產(chǎn)品質(zhì)量可靠，用戶使用放心。Thick800A鋁鍍銅測厚儀是天瑞儀器銷量的鍍層測厚儀；儀器采用上照式結(jié)構(gòu)，測試，軟件界面簡潔，測試樣品用時40S，售后服務(wù)可靠及時。
軟件優(yōu)勢
儀器采用天瑞軟件研發(fā)團隊研發(fā)的能量色散X熒光FpThick軟件，先進的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化應(yīng)用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作。譜圖區(qū)域采用動態(tài)模式，測試時元素觀察更直觀。
軟件具有多種測試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式自由添加，內(nèi)置強度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。
部分產(chǎn)品
X射線熒光測厚儀，X射線鍍層測厚儀，x光鍍層測厚儀， 國產(chǎn)鍍層測厚儀，X熒光鍍層測厚儀廠家，國產(chǎn)X熒光鍍層測厚儀，x光鍍層測厚儀，X射線鍍層測厚儀價格，天瑞鍍層測厚儀， XRF鍍層測厚儀，國產(chǎn)電鍍層測厚儀，X熒光鍍層測厚儀，電鍍層測厚儀，x射線熒光鍍層測厚儀， x熒光鍍層測厚儀價格，金屬鍍層測厚儀，X熒光電鍍層測厚儀，鍍層膜厚測試儀，無損金屬鍍層測厚儀，X光電鍍層測厚儀，X熒光鍍層測厚儀品牌，x-ray鍍層測厚儀，X射線金屬鍍層測厚儀，x射線電鍍層測厚儀，電鍍鍍層測厚儀，國產(chǎn)X射線鍍層測厚儀，xrf鍍層膜厚測試儀，X熒光鍍層膜厚儀，X射線鍍層膜厚儀, 天瑞儀器是國內(nèi)的分析儀器廠家，產(chǎn)品包括X射線熒光測厚儀，X熒光鍍層測厚儀，x-ray膜厚儀，鍍金鍍銀測厚儀.
技術(shù)參數(shù)
1.鋁鍍銅測厚儀針對不規(guī)則樣品進行高度激光定位測試點分析；
2.軟件可分析5層25種元素鍍層；
3.通過軟件操作樣品移動平臺，實現(xiàn)不同測試點的測試需求；
4.配置高分辨率Si-PIN半導(dǎo)體探測器，實現(xiàn)對多鍍層樣品的精準分析；
5.內(nèi)置高清晰攝像頭，方便用戶觀測樣品狀態(tài)；
6.高度激光敏感性傳感器保護測試窗口不被樣品撞擊。
應(yīng)用領(lǐng)域
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
鋁鍍銅測厚儀金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于電鍍行業(yè)。
硬件配置
1. 探測器
2. 高、低壓電源
3. MCA多道分析器
4. X光管
5. 高精密攝像頭
6. 開放式樣品腔
7. 雙激光定位裝置
8. 鉛玻璃屏蔽罩
9. 精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動
10. 信號檢測電子電路
11. 高度傳感器
12. 保護傳感器
13. 計算機及噴墨打印機
產(chǎn)品特點
1.小準直器：0.1，可以進行小樣品測試（小點）的測試，從而提高測試的準確率和度。
2.高度激光：自動定位高度，可滿足不規(guī)則表面樣品的測試
3.高分辨率探頭：提高分析的準確性。
測試實例
鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度，七次的結(jié)果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行定位測試
結(jié)論
實驗表明，使用Thick800A鋁鍍銅測厚儀對鍍件膜厚測試，結(jié)果準確度高，速度快（幾十秒），其測試效果完全可以和顯微鏡測試法媲美。
