詢價(jià)
- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號(hào)
- 測(cè)試平臺(tái)：精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
- 探測(cè)器：Si-Pin探測(cè)器
- 工作原理：利用x射線對(duì)金屬表面進(jìn)行激發(fā)，檢測(cè)熒光強(qiáng)度來(lái)?yè)Q算成金屬表層的厚度的儀器
- 準(zhǔn)直器大?。?/strong>φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
性能特點(diǎn)
1.滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求2.φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求，可以對(duì)同一鍍件不同部位測(cè)試厚度3.高移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位小于0.005mm4.采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度5.定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊6.鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)7.高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)8.良好的射線屏蔽作用9.測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)
測(cè)試實(shí)例
鍍層厚度熒光檢測(cè)儀鍍鎳器件是比較常見(jiàn)的電鍍器件，其鎳鍍層在保護(hù)銅基體免受氧化同時(shí)還能起到美觀的作用。這里以測(cè)試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說(shuō)明此款儀器的測(cè)試效果。
以下使用Thick800A儀器對(duì)銅鍍鎳樣品實(shí)際測(cè)試Ni層厚度，七次的結(jié)果其標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。且可在樣品上進(jìn)行定位測(cè)試，其測(cè)試位置如圖。 結(jié)論
實(shí)驗(yàn)表明，使用Thick800A 儀器對(duì)鍍件膜厚測(cè)試，結(jié)果準(zhǔn)確度高，速度快（幾十秒），其測(cè)試效果完全可以和顯微鏡測(cè)試法媲美。
鍍層厚度測(cè)試方法一般有以下幾種方法：1.光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T6462-20052.X-ray法（X射線法）。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T16921-2005
3.庫(kù)侖法，此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T4955-2005
Thick800A鍍層厚度熒光檢測(cè)儀是天瑞儀器銷量的鍍層測(cè)厚儀；儀器采用上照式結(jié)構(gòu)，測(cè)試，軟件界面簡(jiǎn)潔，測(cè)試樣品用時(shí)40S，售后服務(wù)可靠及時(shí)。
儀器配置
1 鍍層厚度熒光檢測(cè)儀硬件：主機(jī)壹臺(tái)，含下列主要部件： ①X光管 ②半導(dǎo)體探測(cè)器③放大電路 ④高樣品移動(dòng)平臺(tái)⑤高清晰攝像頭 ⑥高壓系統(tǒng)⑦上照、開(kāi)放式樣品腔 ⑧雙激光定位⑨玻璃屏蔽罩2 軟件：天瑞X射線rel="nofollow" 熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.03 計(jì)算機(jī)、打印機(jī)各一臺(tái)計(jì)算機(jī)（品牌，P4，液晶顯示屏）、打印機(jī)（佳能，彩色噴墨打印機(jī)）4 資料：使用說(shuō)明書(shū)（包括軟件操作說(shuō)明書(shū)和硬件使用說(shuō)明書(shū)）、出廠檢驗(yàn)合格證明、裝箱單、保修單及其它應(yīng)提供資料各一份。5 標(biāo)準(zhǔn)附件準(zhǔn)直孔：0.1X1.0mm（已內(nèi)置于儀器中）
測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
1.國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法
應(yīng)用行業(yè)
1.鍍層厚度熒光檢測(cè)儀電子半導(dǎo)體行業(yè)接插件和觸點(diǎn)的厚度測(cè)量2.印刷線路板行業(yè)功能鍍層厚度測(cè)量3.貴金屬首飾手表行業(yè)鍍層厚度測(cè)量
4.五金電鍍行業(yè)各種防腐性、裝飾性及功能鍍層厚度測(cè)量
分析原理
儀器采用XRF光譜分析技術(shù)，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測(cè)樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來(lái)填充軌道空穴時(shí)，就會(huì)產(chǎn)生特征X射線。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來(lái)得到待測(cè)元素的特征信息。
廠家介紹
江蘇天瑞儀器股份有限公司是國(guó)內(nèi)早研發(fā)生產(chǎn)X熒光光譜儀的廠家，分析儀器上市企業(yè)
江蘇天瑞儀器股份有限公司是生產(chǎn)ROHS測(cè)試儀，液相色譜質(zhì)譜儀（LCMS）,X熒光鍍層測(cè)厚儀，x射線測(cè)厚儀。
天瑞儀器將以“行業(yè)技術(shù)”的姿態(tài)，不斷探究世界分析領(lǐng)域的。為客戶提供更加先進(jìn)的產(chǎn)品和更加滿意的服務(wù)。
