詢價
- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號
- 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。
- 探測器：Si-Pin探測器
- 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發(fā)，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準直器大小：φ0.1mm的小孔準直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
標準配置
開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
應用領域
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業(yè)。
鍍銀層測厚儀介紹
Thick800A高壓開關鍍銀層測厚儀是天瑞集多年的經驗，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是一款功能強大的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
性能特點
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高移動平臺可定位測試點，重復定位小于0.005mm
便攜式鍍層設備
鍍銀層測厚儀技術參數
測試元素范圍原子序數為12～92【鎂（Mg）到鈾（U）】之間的元素均可測量
分析厚度范圍0.01～50um（實際分析范圍隨元素種類和層數不同）
分析層數可達五層
分析時間5～30秒
曲線類型基本參數FP法和經驗系數EC法
50KV/激發(fā)源 200uA-銀靶端窗一體化微型X光管及高壓電源
探測器SDD半導體探測器
探測器分辨率可達125eV
準直器和濾光片直徑4.0mm和2.0mm準直器，6種濾光片組合自動切換
視頻系統(tǒng)500萬像素的高清晰攝像頭
儀器外形尺寸244mm（長）x 90mm（寬）x 330mm（高）
儀器重量1.7Kg
性重金屬分析軟件，采用智能一鍵測試和智能判斷功能
數據傳輸數字多道技術，SPI數據傳輸，快速分析，高計數率；防水迷你USB，并且可以外接臺式電腦。
儀器重量1.7Kg
操作環(huán)境濕度≤90%
智能三色預警
指示系統(tǒng)
鍍銀層測厚儀性能優(yōu)勢
微型光管、Fast-SDD探測器、微型數字信號多道處理器及智
能分析模塊四大技術的引入，使其具有臺式相近的測試精
度。
采用超高主頻及大內存，超大存儲空間，可海量存儲數據。全
新自主研發(fā)的數字多道技術，保證每秒有效采譜計數可達
500kcps
準直濾波系統(tǒng)，其組合達到極限12組，滿足客戶的不同條件下
的檢測需求。
內置500萬像素高清晰攝像頭，隨時觀察樣品測試位置，使測
量更加精準。
