- 移動(dòng)平臺(tái):精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測(cè)器和X光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
- 樣品腔尺寸:439mm×300mm×50mm
- 分析范圍:同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層
早期,X熒光鍍層測(cè)厚儀基本被國(guó)外廠家(德國(guó)費(fèi)希爾,日本精工,牛津等)壟斷,用戶可以選擇的廠家比較少。天瑞儀器92年開(kāi)始做光譜儀,是一家生產(chǎn)光譜儀的廠家,在X熒光鍍層檢測(cè)方面,率先打破國(guó)外的技術(shù)壟斷。天瑞Thick800A內(nèi)置了天瑞研發(fā)的信噪比增強(qiáng)器與數(shù)字多道分析器,在測(cè)試可以與進(jìn)口設(shè)備PK過(guò)程中不落下風(fēng)。超低的檢出限使儀器的性能在與進(jìn)口設(shè)備(費(fèi)希爾,精工,牛津等)PK過(guò)程中不落下風(fēng);儀器使用方便,測(cè)試快捷,可以測(cè)試鍍金、鍍鎳、鍍銅、鍍鉻、鎳鋅、鍍銀、鍍鈀等金屬鍍層厚度。

天瑞Thick800A具如下特點(diǎn):1. 高移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位小于0.005mm;2. 采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求;3. φ0.2mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求;4. 定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊;5. 鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn);6. 高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn),微小測(cè)試點(diǎn)更;7. X射線鍍層測(cè)厚儀廠家優(yōu)勢(shì)在于滿足客戶要求的情況下,價(jià)格更優(yōu)惠、售后服務(wù)更方便,維護(hù)成本更低。 測(cè)試實(shí)例鍍鎳器件是比較常見(jiàn)的電鍍器件,其鎳鍍層在保護(hù)銅基體免受氧化同時(shí)還能起到美觀的作用。這里以測(cè)試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說(shuō)明此款儀器的測(cè)試效果。
以下使用Thick800A儀器對(duì)銅鍍鎳樣品實(shí)際測(cè)試Ni層厚度,七次的結(jié)果其標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。且可在樣品上進(jìn)行定位測(cè)試,其測(cè)試位置如下圖。

銅鍍鎳件X射線熒光測(cè)試譜圖
| 樣 品 名 | 成分Ni(%) | 鍍層Ni(um) |
| 吊扣 | 100 | 19.321 |
| 吊扣2# | 100 | 19.665 |
| 吊扣3# | 100 | 18.846 |
| 吊扣4# | 100 | 19.302 |
| 吊扣5# | 100 | 18.971 |
| 吊扣6# | 100 | 19.031 |
| 吊扣7# | 100 | 19.146 |
| 平均值 | 100 | 19.18314 |
| 標(biāo)準(zhǔn)偏差 | 0 | 0.273409 |
| 相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差 | 0 | 1.425257 |
廠家介紹
江蘇天瑞儀器股份有限公司是生產(chǎn)ROHS檢測(cè)儀(EDX1800B),鍍層測(cè)厚儀(Thick800A),氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀(GCMS),等離子發(fā)射光譜儀(ICP2060T),x射線測(cè)厚儀,ROHS檢測(cè)設(shè)備,X射線鍍層測(cè)厚儀,氣相色譜儀,ROHS測(cè)試儀,液相色譜儀,ROHS2.0新增4項(xiàng)分析儀,手持式礦石分析儀,雙酚A檢測(cè)儀,X射線熒光光譜儀,汽油中硅含量檢測(cè)儀, ROHS儀器,手持式合金分析儀(EXPLORER5000)等分析儀器,涉及的儀器設(shè)備主要有Thick8000、Thick800A 、EDX1800B

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