技術(shù)參數(shù)
型號(hào) | QuaNix 4200 | QuaNix 4500 |
基體 | Fe磁性 | Fe/NFe磁性非磁性 |
探頭形式 | 一體 | |
顯示 | LCD數(shù)字顯示 | |
測(cè)量范圍 | 0－3000μm | Fe:0-3000μm NFe：0－2000μm |
測(cè)量 | 0－50μm：≤±1μm， 50－1000μm：≤±1.5%， 1000－2000μm：≤±2%，2000－5000μm≤±3% | |
顯示 | 1μm | |
工作溫度 | －10－＋60℃ | |
溫度補(bǔ)償 | 0－50℃ | |
小基體 | 10mm×10mm | |
小曲率 | 凸、凹半徑：3mm/25mm | |
薄基體 | Fe：0.2mm，NFe：0.05mm | |
電源 | 5號(hào)電池2節(jié) | |
重量 | 110g | |
尺寸 | 110×60×27mm | |
特點(diǎn)：
位穩(wěn)定：
涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)位，
可以在隨儀器的校板或未涂覆的工件上校。
儀器位的穩(wěn)定是測(cè)量準(zhǔn)確的前提。
一臺(tái)好的測(cè)厚儀校后，可以長(zhǎng)時(shí)間保持位不漂移，
準(zhǔn)確測(cè)量
溫度補(bǔ)償：
涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù)，以不同溫度下的測(cè)量。
紅寶石探頭：
探頭接觸點(diǎn)的性直接影響測(cè)量的。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會(huì)帶來(lái)很大的誤差。
的直流采樣技術(shù)：
使得測(cè)量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有的和
