詢價(jià)
- 移動(dòng)平臺(tái)：精密的三維移動(dòng)平臺(tái)
- 樣品腔尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
- 分析范圍：同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層
- 檢出限：可達(dá)2ppm，薄可測(cè)試0.005μm
- 鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）重復(fù)性：可達(dá)0.1%
- 同時(shí)檢測(cè)元素：多24個(gè)元素，多達(dá)五層鍍層
- 準(zhǔn)直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
THICK800A是功能強(qiáng)大的 X 射線鍍層測(cè)厚儀，配備高靈敏度的硅漂移探測(cè)器 (SDD) 以及微聚焦射線管；以及各種不同組合的準(zhǔn)直器和濾波器，是完成嚴(yán)苛測(cè)量任務(wù)的理想之選。例如，借助 XDV 設(shè)備，您可以測(cè)量?jī)H 5 nm 厚的鍍層厚度及分析其元素成分，還可以對(duì)僅 10 μm 結(jié)構(gòu)的工件進(jìn)行測(cè)試。
THICK800A特性
借助高性能 X 射線管和高靈敏鍍的硅漂移探測(cè)器 (SDD)，可對(duì)超薄鍍層進(jìn)行測(cè)量
極為堅(jiān)固的結(jié)構(gòu)支持長(zhǎng)時(shí)間批量測(cè)試，具有卓越的長(zhǎng)期穩(wěn)定性
擁有大測(cè)量距離的XDV-μ LD型儀器（小12mm）
配備氦氣充填的XDV-μ LEAD FRAME型儀器可測(cè)量的元素范圍更廣—從Na（11）到鈾（92）
先進(jìn)的多毛細(xì)管X射線透鏡技術(shù)，可將 X射線聚焦在極小的測(cè)量面上
通過可編程XY工作臺(tái)與Z軸（可選）實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的批量測(cè)試
憑借視頻圖像與激光點(diǎn)定位，快速、準(zhǔn)確地測(cè)量產(chǎn)品
THICK800A應(yīng)用：
THICK800A鍍層厚度測(cè)量
抗磨損鍍層，如極小的手表元件上的 NiP鍍層
機(jī)械手表機(jī)芯中可見部件上非常薄的貴金屬涂層
測(cè)量已布元器件線路板
測(cè)量納米級(jí)厚度的金屬化層（凸點(diǎn)下金屬化層，UBM）
C4 以及更小的焊接凸點(diǎn)測(cè)量（Solder Bump）
THICK800A材料分析
依據(jù) RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他準(zhǔn)則，檢測(cè)電子元件、包裝以及消費(fèi)品中不合要求的物質(zhì)（例如重金屬）
功能性鍍層的成分，如測(cè)定化學(xué)鎳中的磷含量
分析黃金和其他貴金屬及其制成的合金
分析銅柱上的無鉛焊料凸點(diǎn)（Solder Bump）
測(cè)試半導(dǎo)體行業(yè)中 C4 以及更小的焊接凸點(diǎn)（Solder Bump）
江蘇天瑞儀器股份有限公司生產(chǎn)鍍層測(cè)厚儀，ROHS檢測(cè)儀，氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀，電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,ROHS分析儀，X射線鍍層測(cè)厚儀，氣相色譜儀，ROHS測(cè)量儀，液相色譜儀，ROHS2.0分析儀，XRF合金分析儀，X熒光光譜儀，汽油中硅含量檢測(cè)儀， ROHS檢測(cè)儀器，手持式合金分析儀等，涉及的儀器設(shè)備主要有EDX1800B,Thick800A，GCMS6800，ICP2060T,，ICPMS2000等。
江蘇天瑞儀器股份有限公司鍍層測(cè)厚儀展廳
