詢價(jià)
- 移動(dòng)平臺(tái)：精密的三維移動(dòng)平臺(tái)
- 樣品腔尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
- 分析范圍：同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層
Think800A鍍層測(cè)厚儀是一款專門針對(duì)鍍層厚度測(cè)量、鍍層元素種類及含量的快速無損分析的需求，特別設(shè)計(jì)了該款儀器，其特點(diǎn)可以概括為以下幾點(diǎn)
上照式
測(cè)試組件可升降
高移動(dòng)平臺(tái)
小孔準(zhǔn)直器
高分辨率探測(cè)器
可視化操作
自動(dòng)定位高度
自動(dòng)尋找光斑
鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)
良好的射線屏蔽
超大樣品倉
測(cè)試口安全防護(hù)
技術(shù)指標(biāo)
X射線激發(fā)源：5OKV/1000μA-鎢靶X光管及高壓電源
探測(cè)器及分辨率：SDD探測(cè)器，分辨率140±5eV
分析元素范圍：原子序數(shù)16（S）～92（U）
分析元素及層數(shù)：可同時(shí)分析多達(dá)24種元素及5層鍍層
分析厚度范圍：檢測(cè)覆蓋層厚度一般在50μm以內(nèi)
檢出限：鍍層金屬元素厚度薄可達(dá)0.005μm
定位：0.001mm
測(cè)量時(shí)間：10s及以上
樣品平臺(tái)移動(dòng)范圍：120mm×120mm
樣品腔升降平臺(tái)移動(dòng)高度：0～150mm
儀器配置
硬件：主機(jī)壹臺(tái)，含下列主要部件
1.X光管 2.半導(dǎo)體探測(cè)器
3.放大電路 4.高樣品移動(dòng)平臺(tái)
5.高清晰攝像頭 6.高壓系統(tǒng)
7.上照、開放式樣品腔 8.雙激光定位
9.玻璃屏蔽罩
軟件：天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0
工作環(huán)境要求
環(huán)境溫度要求：15℃～30℃
環(huán)境相對(duì)濕度：<70%
工作電源：交流220±5V
周圍不能有強(qiáng)電磁干擾
江蘇天瑞儀器股份有限公司鍍層測(cè)厚儀展廳
