XTDIC三維全場應(yīng)變測量分析系統(tǒng)，結(jié)合數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)（DIC）與雙目立體視覺技術(shù)，通過追蹤物體表面的散斑圖像，實(shí)現(xiàn)變形過程中物體表面的三維坐標(biāo)、位移及應(yīng)變的測量，具有便攜，速度快，高，易操作等特點(diǎn)。

系統(tǒng)組成：統(tǒng)主要由測量頭、控制箱、標(biāo)定板、標(biāo)志點(diǎn)、計(jì)算機(jī)及檢測分析軟件等組成系統(tǒng)應(yīng)該包含系統(tǒng)測量頭（含兩臺高速工業(yè)相機(jī)、進(jìn)口相機(jī)鏡頭，帶萬向手柄可調(diào)節(jié)LED光源）、相機(jī)同步控制觸發(fā)控制箱、系統(tǒng)標(biāo)定板、系統(tǒng)可移動(dòng)支撐架、動(dòng)態(tài)采集分析軟件、載荷加壓控制通訊接口、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)等組成。

主要應(yīng)用

XTDIC 三維數(shù)字散斑動(dòng)態(tài)變形測量分析系統(tǒng)是實(shí)驗(yàn)力學(xué)領(lǐng)域中一種重要的測試方法，其主要應(yīng)用有：

在材料力學(xué)性能測量方面：DIC已成功應(yīng)用于各種復(fù)雜材料的力學(xué)性能測試中。如火箭發(fā)動(dòng)劑固體燃料、橡膠、光纖、壓電薄膜、復(fù)合材料以及木材、巖石、土方等天然材料的力學(xué)性能的檢測中。值得注意的是，DIC被廣泛應(yīng)用于破壞力學(xué)研究中，包括裂紋應(yīng)變場測量、裂紋張開位移測量以及高溫下裂紋應(yīng)變場測量等。

在細(xì)觀力學(xué)測量方面：借助于掃描電子顯微鏡(SEM)、掃描隧道電子顯微鏡(STEM)以及原子力顯微鏡(AFM)，DIC被越來越多地應(yīng)用于細(xì)觀力學(xué)測量。近，數(shù)字散斑相關(guān)方法還被應(yīng)用于物體表面粗糙度的測量中。

在損傷與破壞檢測方面：DIC被應(yīng)用于多種復(fù)雜材料，如巖石的破壞檢測中。DIC還被應(yīng)用于一些特殊器件，如陶瓷電容器、電子器件，電子封裝的無損檢測研究中。

在生物力學(xué)測量方面：DIC被應(yīng)用于測量手術(shù)復(fù)位后肱骨頭在內(nèi)旋轉(zhuǎn)及前屈運(yùn)動(dòng)下大小結(jié)節(jié)的相對位移量，以及頸椎內(nèi)固定器對人體頸椎運(yùn)動(dòng)生物力學(xué)性能的影響等。

對于大中專院校的研究教學(xué)應(yīng)用，本系統(tǒng)開展各種軟組織、金屬及復(fù)合材料性能測試、力學(xué)性能測試分析、有限元分析驗(yàn)證等研究和教學(xué)實(shí)驗(yàn)，具有大至1000%應(yīng)變測量范圍，并可以實(shí)時(shí)計(jì)算、實(shí)現(xiàn)動(dòng)態(tài)全場的應(yīng)變變形測量。在土木工程的相關(guān)研究中，如四點(diǎn)彎試件、半圓弧試件、懸臂梁實(shí)驗(yàn)，對應(yīng)完整實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)方案，以非接觸式的方式提升研究手段，提高研究能力。亦可為學(xué)生提供可視化的教學(xué)工具，讓學(xué)生的基礎(chǔ)學(xué)習(xí)課程變得直觀和可視，使復(fù)雜問題簡單化、抽象問題直觀化、隱蔽問題可視化。

1、技術(shù):多相機(jī)柔性標(biāo)定、數(shù)字圖像相關(guān)法

2、測量結(jié)果:三維坐標(biāo)、全場位移及應(yīng)變，可視化顯示及測量過程的視頻錄制輸出，測量結(jié)果及數(shù)據(jù)輸出成報(bào)表，支持TXT，XLS，DOC文件的輸出

3、測量幅面:支持1mm-4m范圍的測量幅面，并配備相應(yīng)編碼型標(biāo)定板標(biāo)定架，可定制更多測量幅面

4、測量相機(jī):支持百萬至千萬像素相機(jī)，支持低速到高速相機(jī)，支持千兆網(wǎng)和Camera Link等多種相機(jī)接口，控制軟件支持采集幀率10萬 fps

5、相機(jī)標(biāo)定:簡單快捷，需要可支持任意數(shù)目相機(jī)的同時(shí)標(biāo)定，支持外部圖像標(biāo)定

6、位移測量:0.005mm

7、應(yīng)變測量范圍:0.01%-2000%

8、應(yīng)變測量:0.001%

9、測量模式:三維變形測量，可兼容二維測量

10、實(shí)時(shí)測量計(jì)算:采集圖像的同時(shí)，實(shí)時(shí)進(jìn)行全場應(yīng)變計(jì)算